「100 test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An integrated circuit 100 comprises a target circuit 102 and a test circuit 104.例文帳に追加

集積回路(100)は、ターゲット回路(102)とテスト回路(104)からなる。 - 特許庁

Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).例文帳に追加

次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁

Have you ever gotten a perfect score on a test in high school, Taro?例文帳に追加

太郎は高校入ってからテストで100点取ったことある？ - Tatoeba例文

The test print 100 is used for shading correction.例文帳に追加

テストプリント１００は、シェーディング補正に用いられる。 - 特許庁

(eg) -range line100 will peform the tests from the 100pixel line test, and go on till the last test, -range line100,dline10 will do the tests from line100 to dline10.例文帳に追加

(例) -range line100 を指定すると、100 ピクセルの線のテストから最後のテストまでが実行される。 - XFree86

After the test data is written in the DRAM array 100, data corresponding to the test data is read.例文帳に追加

ＤＲＡＭアレイ１００にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁

A test system 100 is configured to test the operation of a semiconductor memory device.例文帳に追加

テストシステム１００は、半導体記憶装置の動作テストを実行するためのシステムである。 - 特許庁

A primary accelerated test is executed relative to a test body of the cable at 100°C or higher.例文帳に追加

ケーブルの試験体に対して１００℃以上の加熱温度で一次加速試験を実施する。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、テストフロー２００の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報３００を維持する（１０２）。 - 特許庁

The test circuit 100 performs the test of the circuit to be tested, and outputs the test result for a tester.例文帳に追加

本発明におけるテスト回路１００は、テスト対象回路のテストを行ってテスタに対してテスト結果を出力するテスト回路である。 - 特許庁

In this method 100 for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法１００において、現行テストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中維持される（１０２）。 - 特許庁

A test result characteristic f0 is displayed on the test result screen 100 of a display monitor 12 according to test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、表示モニタ１２の試験結果画面１００に試験結果特性ｆ０を表示する。 - 特許庁

A vibration testing system 100 performs a vibration test by loading a test object 13 on a table 1, and exciting the test object 13 with a hydraulic exciter 2.例文帳に追加

振動試験装置１００は、被試験体１３をテーブル１に搭載し、油圧加振機２で加振して振動試験する。 - 特許庁

no test is 100% specific because some people who do not have the disease will test positive for it (false positive). 例文帳に追加

問題の疾患がなくても検査結果が陽性になる（偽陽性）人もいるため、特異度が完全に100％の検査は存在しない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

no test has 100% sensitivity because some people who have the disease will test negative for it (false negatives). 例文帳に追加

問題の疾患があっても検査結果が陰性になる（偽陰性）人もいるため、感度が完全に100％の検査は存在しない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

Then, a data for an authentication test is acquired from the authenticated person 100 by the authentication data input part 103 to conduct the authentication test.例文帳に追加

その後、認証テストを行なうために、認証データ入力部103により被認証者100から認証テスト用データを取得する。 - 特許庁

The quick [acid-test] ratio of our company has been over 100% for the last five years.例文帳に追加

ここ５年、我が社の当座比率は１００％以上です。 - Weblio英語基本例文集

A test and measurement device 100 receives an RF signal at an input terminal 110.例文帳に追加

試験測定装置１００は、入力端子１１０でＲＦ信号を受ける。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁

A performance test contents preparing part 101 of a performance test support device 100 receives performance test contents(the contents of a request transmitted to a test object system 110) inputted by a user, and stores the performance test contents added with the performance test contents identification information in a performance test contents database 105.例文帳に追加

性能試験支援装置１００の性能試験内容作成部１０１は、利用者により入力された性能試験内容（試験対象システム１１０に対して送出するリクエストの内容）を受取り、性能試験内容識別情報を付加して、性能試験内容データベース１０５に格納する。 - 特許庁

A clamping device (33) fixed to the baseplate (20) is moveable between a rest position wherein the device is not forced into contact with the test tool (100) and an actuated position wherein the test tool (100) is fixed in position.例文帳に追加

ベースプレート(20)に対して固定されたクランプ装置(33)は、試験ツール(100)に押付けられない休止位置と、試験ツール(100)を適所に固定する作動位置との間を移動可能である。 - 特許庁

A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加

変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁

The test die may be designed, in accordance with a design methodology (100) for a test die and a product die that includes the step of concurrently designing test circuitry (202A, 402, 404) and product circuitry in a unified design (102).例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路(202A,402,404)及び製品回路を統合化された設計(102)に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論(100)に従って設計可能である。 - 特許庁

The test device 1 is for the performance test of a breaker 100 and capable of carrying out a performance test on different types of breakers 100.例文帳に追加

試験装置１は、ブレーカ１００の動作試験を行う試験装置であり、異なる種類のブレーカ１００について、動作試験を行うことができるように構成されている。 - 特許庁

A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.例文帳に追加

テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁

A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.例文帳に追加

テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁

In the pseudo-spatial transmission test device 100 of this system, antennas 22, 32 and radio communication units 20, 30 are respectively mounted on both ends of a test cavity 10, and the transmission test is carried out between the radio communication units, by using the test cavity for a pseudo-space.例文帳に追加

本発明の疑似空間伝送試験装置１００は、試験空洞１０の両端にアンテナ２２，３２と無線通信装置２０，３０とを装着し、試験空洞を疑似空間として無線通信装置の間で伝送試験を行う。 - 特許庁

This method 100 is used for diagnosing faults of a system under test (SUT) tested by a system test and having a plurality of components.例文帳に追加

システム試験によって試験され、複数のコンポーネントを備えている試験対象システム（ＳＵＴ）における故障を診断するための方法１００。 - 特許庁

The inspecting apparatus 100 carries out an imaging test of the wafer scale lens 2 arranged between the object for test 101 and the light-receiving section 103 at the wafer level.例文帳に追加

検査装置１００は、被写体１０１と、受光部１０３との間に配置されたウエハスケールレンズ２の撮像テストを、ウエハレベルで行う。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

Test data is recorded on the test area (PCA) of the optical disk 100 by variously varying the record power and then reproduced by a signal processing part 16.例文帳に追加

記録パワーを種々変化させて光ディスク１００のテストエリア（ＰＣＡ）にテストデータを記録し、信号処理部１６で再生する。 - 特許庁

In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置１００がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ３２をオン操作する。 - 特許庁

The test-mode entry circuit 100 includes an n-bit shift register 101, a control circuit 102 and a test mode signal generation circuit 103.例文帳に追加

テストモードエントリ回路１００は、ｎビットシフトレジスタ１０１、制御回路１０２及びテストモード信号発生回路１０３を備える。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置１００が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

Density data of a test pattern formed by a test pattern formation part 100 are outputted from a print head and recorded on the recording paper.例文帳に追加

テストパターン発生部１００により発生された、テストパターンの濃度データは、印字ヘッドに出力されて記録紙に印字される。 - 特許庁

An illumination source 120 of the optical test apparatus 100 provides an optical test signal to an image sensor 10 through a probe card 110.例文帳に追加

光学テスト装置１００の照明ソース１２０は光学テスト信号をプローブカード１１０を通じてイメージセンサ１０に提供する。 - 特許庁

Disclosed is a test system including at least 100 flash memory devices and a mass test board.例文帳に追加

少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。 - 特許庁

The spattering preventing member 1 comprises a cylindrical coating member 2 which covers the perimeter of a test piece 100 at tensile test.例文帳に追加

本発明の飛散防止部材１は、引張試験時に試験片１００の周囲を覆うように筒状に形成された被覆部材２を備えている。 - 特許庁

A computer 100 performs test execution of a program, adds link information to memory dump obtained as a result of the test and shows it on a monitor 115.例文帳に追加

計算機１００でプログラムをテスト実行し、テストの結果として得られるメモリダンプに、リンク情報を付加して、モニタ１１５に表示する。 - 特許庁

Thereby, a test result of a virtual device can be easily created in the offline simulation environment of the test device 100.例文帳に追加

かかる発明によれば、試験装置１００のオフライン・シュミレーション環境において、仮想デバイスの試験結果を容易に作成できる。 - 特許庁

A container 100 is filled with pressurized gas at the pressurizing station 2 and ultrasonic leak test is performed at the leak test station 4.例文帳に追加

加圧ステーション２で容器１００内に加圧ガスが充填され、漏れ検査ステーション４において、超音波による漏れの検査が行われる。 - 特許庁

The test piece, deposited with the oil component, may be heated at 100-400°C using an electric furnace, in a method of generating the pseudo-oil scorching polluting in the test piece.例文帳に追加

試験片に擬似油焦付き汚れを発生させる方法において、油成分を付着させた試験片を、電気炉を用いて100〜400℃で加熱してもよい。 - 特許庁

A test apparatus 100 judges a test item, and when carrying out the radio transmission characteristics test, the test apparatus 100 communicates layer 3 signals with the mobile terminal apparatus 150 to implement radio connection over CDMA radio interface and transmits a measurement signal.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.例文帳に追加

上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁