testを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 31240件
To reduce a test cost by curtailing time required for a scan test with respect to a scan test circuit.例文帳に追加
スキャンテスト回路において、スキャンテストに要する時間を縮小しテストコストを削減する。 - 特許庁
The performance test execution part 22c executes the performance test of each unit and the performance test of the network.例文帳に追加
性能試験実行部22cは、各ユニットの性能試験やネットワークの性能試験を実行する。 - 特許庁
A test series is generated by substituting the test pattern of each circuit element into the compression test plan.例文帳に追加
圧縮テストプランに各回路要素のテストパターンを代入することで、テスト系列を生成する。 - 特許庁
To provide a test carrier; a test device having it; and a test method of a semiconductor device.例文帳に追加
テストキャリア及びこれを有するテスト装置ならびに半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁
To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.例文帳に追加
ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁
To provide a test procedure determination device capable of obtaining a test procedure for conducting a test in a short time.例文帳に追加
試験を短時間で実施できる試験手順を得られる試験手順決定装置を得ること。 - 特許庁
A test sound generation section 111 generates a test sound signal and emits a test sound.例文帳に追加
テスト音生成部111は、テスト音信号を生成し、テスト音を発生させる。 - 特許庁
Based on the test scenario data D5, a test execution section 8 executes the performance test on the real machine 10.例文帳に追加
試験実行部8は、試験シナリオデータD5に基づき、実機10に対し動作試験を行う。 - 特許庁
To prevent generation of DUT (Device Under Test)destruction by output abnormality of a test signal generation part during a test.例文帳に追加
テスト中に、テスト信号発生部の出力異常によってDUT破壊を起こさないようにする。 - 特許庁
To provide a test apparatus which can reduce test time in a test for a DA convertor or the like.例文帳に追加
DAコンバータ等の試験において、試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
The second test module also returns the test pattern to the first interconnect test module.例文帳に追加
第2のテストモジュールは、テストパターンを、第1の相互接続部テストモジュールに戻すこともできる。 - 特許庁
The record test carry out means carries out the record test to a prescribed record test area.例文帳に追加
記録テスト実行手段は、所定の記録テスト領域に対して記録テストを行う。 - 特許庁
To provide a ROM test circuit in which a test time can be shortened, and a ROM test method.例文帳に追加
テスト時間を短縮することが可能なROMテスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a memory test circuit in which a test employing an arbitrary test pattern is made possible.例文帳に追加
任意のテストパタンによるテストが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁
To prevent failure of a test sample by accurately scanning a test head on the surface of the test sample.例文帳に追加
検査ヘッドを検査試料の表面に正確に走査させて、検査試料の破損を防止する。 - 特許庁
The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加
現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される(S1)。 - 特許庁
To provide a test system and a test method which are simple and by which a test in high frequency is achieved.例文帳に追加
簡単で高周波数での試験を実現したテストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
To perform a rotation-bending test by applying torsional force to a test object while loading the test object with bending moment.例文帳に追加
試験体に対して曲げモーメントを負荷しつつ、ねじり力を負荷して回転曲げ試験を行う。 - 特許庁
To compactly generate a test series of high test quality for an actual working speed function test.例文帳に追加
実動作速度機能テストにおけるテスト品質の高いテスト系列をコンパクトに生成する。 - 特許庁
Thereby, a next test thread can refer to the recorded test status test thread can refer to the recorded.例文帳に追加
従って,次のテストスレッドが記録されたテスト状態を参照できる。 - 特許庁
DNA damage test in mammalian germ cells (comet test, dissolution test for alkali, etc.)*例文帳に追加
ほ乳類生殖細胞における DNA 損傷試験(コメット試験、アルカリ溶出試験など)* - 経済産業省
DNA damage test in mammalian somatic cells (comet test, dissolution test for alkali, etc.)*例文帳に追加
ほ乳類体細胞における DNA 損傷試験(コメット試験、アルカリ溶出試験など)* - 経済産業省
Evaluation based on the test result例文帳に追加
テスト結果に基づいた評価 - Weblio Email例文集
I completely flopped the test.例文帳に追加
私は試験で完璧に失敗しました。 - Weblio Email例文集
This test takes a bit of a while. 例文帳に追加
このテストは少し時間がかかる。 - Weblio Email例文集
Please tell me the meaning of that test. 例文帳に追加
そのテストの意味を教えて下さい。 - Weblio Email例文集
Where will that test be administered? 例文帳に追加
その試験はどこで実施されますか。 - Weblio Email例文集
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