かんすうけっかの英語

複数の表面欠陥計による表面欠陥検査方法例文帳に追加

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD BY A PLURALITY OF SURFACE DEFECT METERS - 特許庁

より小さい XPath 関数の結果を右の区画の「結果」ノードにマップします。例文帳に追加

Map the result of the Less Than XPath function to the Result node in the right pane.発音を聞く  - NetBeans

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。例文帳に追加

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position. - 特許庁

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。例文帳に追加

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed. - 特許庁

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。例文帳に追加

The header a defect list identifier 131 for identifying the defect list, and first updating number-of-time information 133, and a defect entry number 132 indicating the number of defect entries. - 特許庁

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。例文帳に追加

The header includes a defect list identifier 131 for identifying a defect list, a first update-times information representing the number of times that the defect list has been updated, and a defect entry number 132 representing the number of defect entries. - 特許庁

欠陥検出器を複数有する欠陥検査装置であって、複数の欠陥検出器と、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する判別器とを備えた欠陥検査装置およびそれを用い、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する欠陥検査方法。例文帳に追加

The defect inspection method uses the defect inspection apparatus and discriminates whether the defects respectively detected by the defect detectors are the same by comparing and verifying the defect information of the inspected materials sent from defect detectors. - 特許庁

選択した関数の第１の結果のモジュロ関数が計算され、第３の結果が取得される。例文帳に追加

The modulo function of the first result of the selected function is calculated and a third result is obtained. - 特許庁