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そくせんてきしゅつじゅつの英語
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「そくせんてきしゅつじゅつ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
血管から血餅又は他の閉塞物を除去するための塞栓摘出用カテーテル、迅速交換マイクロカテーテル、システム及び方法を提供する。例文帳に追加
To provide a catheter for embolectomy to remove blood clot and other emboli from blood vessel, a quickly replaceable microcatheter, system and method thereof. - 特許庁
ワークの選別処理を高速化して、パーツフィーダの高速搬出性能に十分に対応できるとともに、ワークを摘出する信頼性を向上する。例文帳に追加
To sufficiently accommodate the high-speed carry-out performance of a parts feeder and develop improved workpiece pick-out reliability by achieving high-speed workpiece sorting treatment. - 特許庁
このような制御された流動条件下で、血栓摘出デバイス（２００）を、閉塞の処置のために用いることができ、そして生成されたあらゆる塞栓が、このカテーテル中に導かれる。例文帳に追加
Under such controlled flow conditions, a thrombectomy device 200 may be used to treat the occlusion, and any emboli generated are directed into the catheter(s). - 特許庁
本発明の形状認識センサは、柔軟かつ伸縮可能な絶縁性のあるフィルム状又はそれに類する形状の表面又は内部に、マトリックス状等の規則性のある配列で電極を配した電極部材を少なくとも２枚用いて対向位置に配して構成する電極部と、各電極部材の電極に所定値の電気信号を出力する電気的出力する電気的出力手段と、各電極部材の電極間に生じる電気信号を電気的に計測する電気的計測手段とを有する。例文帳に追加
This shape recognition sensor has an electrode part constituted by arranging at least two electrode members formed by regularly arranging electrodes like a matrix on the surface or the inside of a flexible, elastic, insulating film or the like; an electric output means outputting an electric signal having a specified value to the electrode of each electrode member; and an electrically measuring means electrically measuring an electric signal produced between the electrodes of each electrode member. - 特許庁
集束イオンビーム２で薄膜加工した半導体ウェーハの微細試料片３を摘出するために、搬送手段７に設けられた保持手段先端部９を試料片３に接触させ、接触面の表面活性化による原子間結合を利用して両者を接合して、取り出す。例文帳に追加
To extract a minute sample piece 3 of a semi-conductor wafer thin film processed by a focused ion beam 2, the distal end 9 of a supporting means provided on a transfer means 7 is brought into contact with the minute sample piece 3, and the sample connected to the end making use of the interatomicbonds caused by surface activation of the contact surface is extracted. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
This device includes a focus ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and also includes a probe for separating the microscopic sample containing the desired region of the sample by a charged particle beam type molding process to take out the separated microscopic sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped. - 特許庁
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「そくせんてきしゅつじゅつ」の部分一致の例文検索結果
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上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
The device is equipped with a focused ion-beam optical system and an electro-optical system in the same vacuum device, as well as a probe for separating a minute sample including a desired area of the sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, as well as a probe 72 separating a minute sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated minute sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
This device is provided with a focused ion beam optical system and an electronic optical system in the same vacuum device, and also provided with a probe for separating a minute sample including a desired area of a sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
This apparatus is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and provided with a probe separating a minute sample including the desired area of the sample by charged particle beam molding processing and picking up the separated minute sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
This device is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and a probe separating a trace sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated trace sample. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加
The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated. - 特許庁
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するマニピュレータと、該マニピュレータをウェーハ試料台と独立に駆動するマニピュレータ制御装置を備えた。例文帳に追加
This apparatus is equipped with a focused ion beam optical system and electron optical system in the same evacuation device and a manipulator, to separate a trace sample, including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and to pick up the separated trace sample, and a manipulator control device for driving the manipulator, independently of a wafer sample board. - 特許庁
互いに電気的に独立した複数の分割コイルからなるソレノイドコイルと、各分割コイルから生じる磁束が共通に流れる磁路ループを形成するようにソレノイドコイルに組み合わされた固定鉄心、可動鉄心及びヨークからなる鉄心構体と、個々の分割コイルに対する通電を選択的に切換制御する励磁制御器と、いずれか一つ以上の分割コイルが励磁されたときに固定鉄心に磁気吸引される可動鉄心の変位に基づく機械的出力を弁体に伝える伝達機構とを備える。例文帳に追加
Further, an excitation controller 14 which selectively switches for controling current to individual split, and a transmission push-rod 15 which transfers a mechanical output to a valve body V based on the displacement of the movable iron-core 12 which is magnetically attracted to the fixed iron-core 11 when at least one the split coils are excited, are provided. - 特許庁
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