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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 日英・英日専門用語 > りらてぃぶはいぷそぐらふぃーの英語・英訳 

りらてぃぶはいぷそぐらふぃーの英語

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日英・英日専門用語辞書での「りらてぃぶはいぷそぐらふぃー」の英訳

リラティブハイプソグラフィー


「りらてぃぶはいぷそぐらふぃー」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 35



例文

ソフトリソグラフィー又はインプリントリソグラフィーを用いる分離微小構造及び分離ナノ構造の作製方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for fabrication of isolated micro-and nano-structures using soft or imprint lithography. - 特許庁

アクリレート/エポキシドハイブリッド系はナノインプリントリソグラフィープロセスの高い忠実度という観点で、改良された複製性能を示した。例文帳に追加

The acrylate/epoxide hydrid system shows improved replication properties in terms of high nano-imprint lithography process fidelity. - 特許庁

したがって、本開示の主題は、ソフトリソグラフィー又はインプリントリソグラフィー技術を用いて任意の形状の自立分離ナノ構造を製造する方法を記載する。例文帳に追加

Accordingly, the presently disclosed subject matter describes a method for producing freestanding, isolated nano-structures of any shape using soft or imprint lithography techniques. - 特許庁

WLCSPであって、再配線形成工程では、半導体チップのボンディングパッド1とバンプパッド2とを接続する再配線3の少なくとも一部をフォトマスクを使用しないフォトリソグラフィ技術を用いて形成する。例文帳に追加

In a reinterconnect wiring formation process of WLCSP, at least part of a rewiring 3 for connecting bonding pads 1 of a semiconductor chip and bump pads 2 is formed by photolithography using no photo mask. - 特許庁

ソグラフィー技術を用いてプローブカードを製造する場合には、一種類のプローブカードを作製するにも複数枚のフォトマスクが必要になり、プローブカードのコスト高を招く。例文帳に追加

To prevent increase in cost of a probe card because of the need for a plurality of photomasks even when one type of probe card is produced in the production of the probe cards using a lithography technique. - 特許庁

焼成による感度低下を防止した蛍光体組成物、印刷用ペーストもしくはフォトリソグラフィー用ペースト、およびレジストフィルムを提供すること、これらを使用して感度の高いプラズマディスプレイパネル、そのための背面板を提供することである。例文帳に追加

To provide a phosphor composition which has prevented lowering of sensitivity due to firing, printing paste or photolithographic paste, and resist film and high sensitivity plasma display panel using the resist film and back plate therefor. - 特許庁

例文

プローブカードの配線基板10における開口部11の一方辺側には被測定チップ領域CHIPの入力端子電極群DINにそれぞれ接触させるニードルタイプを有する探針群12が設けられ、他方辺側には出力端子電極群DOUTにそれぞれ接触させるリソグラフィタイプを有する探針群13が設けられる。例文帳に追加

A group 12 of needle-type probes severally contacting with a group DIN of input terminal electrodes in a chip region CHIP to be measured is provided on one side of an opening part 11 in a wiring substrate 10 of a probe card while a group 13 of lithography-type probes severally contacting with a group DOUT of output terminal electrodes is provided on the other side. - 特許庁

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「りらてぃぶはいぷそぐらふぃー」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 35



例文

続いて、上部ギャップ層上にレジスト層を形成し、フォトリソグラフィ技術により媒体対向面となる端面から所定のスロートハイトが得られる位置までレジスト層を除去する。例文帳に追加

Subsequently, a resist layer is formed on the upper gap layer and the resist layer is removed to the position where a predetermined throat height is obtained from an end face which becomes a face opposed to a medium by a photolithographic technology. - 特許庁

本発明は、極紫外線の放電プラズマソースあるいはレーザー生成プラズマソースとの使用に適し、かつ、ソース内のあるいはソース付近のガスが、装置のさらに別の部分に入り込むのを制限するリソグラフィ装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lithography apparatus which is suitable for use in a discharge plasma source of extreme ultraviolet ray or a laser generation plasma source and restricts that gas in the source or near the source enters the other portion of the apparatus. - 特許庁

電子線またはEUV(極紫外光)によるリソグラフィプロセスにおいて、装置内の汚染を防ぐことができるレジスト組成物及びレジストパターン形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a resist composition and resist pattern forming method which can prevent contamination in a device in a lithography process by an electron beam or EUV(extreme-ultraviolet radiation). - 特許庁

放射線ビームを生成する放射線ソースを含む放射線システム、および放射線ビームの経路に配置構成された汚染物質トラップを含むリソグラフィ装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lithographic device having a radiological system including a radiation source for generating a radiation beam, and a contaminated material trap arranged and constituted on the path of the radiation beam. - 特許庁

フォトリソグラフィーとドライエッチングとによって第1の層間絶縁膜204と第1の金属層203と絶縁膜202の一部とを選択的に除去して、第1の配線を形成した後、プラズマCVD装置を使用して第2の層間絶縁膜212を形成する。例文帳に追加

After a first wiring is formed by selectively removing a part of the first interlayer insulating film 204, the first metal layer 203, and the insulating film 202 by photolithography and dry- etching, a second interlayer insulating film 212 is formed using a plasma CVD apparatus. - 特許庁

フォトリソグラフィーとドライエッチングとによって第1の層間絶縁膜204と第1の金属層203と絶縁膜202の一部とを選択的に除去して、第1の配線を形成した後、プラズマCVD装置を使用して第2の層間絶縁膜212を形成する。例文帳に追加

After a first wiring is formed by selectively removing a part of the first interlayer insulating film 204, the first metal layer 203, and the insulating film 202 through photolithography and dry-etching, a second interlayer insulating film 212 is formed using a plasma CVD device. - 特許庁

インプリント・テンプレート又はインプリント・テンプレートを保持するように構成されたテンプレート・ホルダと、基板を受けるように構成された基板テーブルとを有し、さらに、基板テーブル及びインプリント・テンプレート又はテンプレート・ホルダと共に、周囲の領域から実質的に密閉された密閉空間を形成するように構成された壁を備えたリソグラフィ装置が開示される。例文帳に追加

The lithographic device has an imprint template or a template holder configured to hold an imprint template, and a substrate table constituted to receive a substrate, the device further including walls which together with the substrate table and the imprint template or the template holder, are configured to form an enclosed space which is substantially sealed from a surrounding space. - 特許庁

例文

プラズマの形態であるEUV放射源は、EUVリソグラフィ装置内の放射源コレクタモジュールの出口アパーチャを通過するように仮想放射源点に合焦される。例文帳に追加

An EUV radiation source in the form of a plasma is focused at a virtual source point so as to pass through an exit aperture of a source collector module in an EUV lithographic apparatus. - 特許庁

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