アトムの子らの英語

原子１個１個を直接測定することで、非常に微細な領域の原子構造を調べることができるアトムプローブ装置の機能向上を図るものである。例文帳に追加

To improve a function of an atom probe device capable of investigating an atom structure in a very minute region by directly measuring atoms one by one. - 特許庁

３次元アトムプローブ装置を用いて取得した試料の原子レベル微細構造データにおける原子間距離に基づいて、参照データなしに実際の試料の微細構造から欠落している原子の位置を求め、前記位置に前記原子を補完する。例文帳に追加

Based on an interatomic distance according to atomic level fine structure data on a specimen acquired by using a three-dimensional atom probe, the positions of atoms missing from the fine structure of an actual specimen are found without using reference data to complement it with atoms to the positions. - 特許庁

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。例文帳に追加

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography. - 特許庁

式（１）（式中、Ａｒは置換されていてもよい芳香族基または置換されていてもよいヘテロ芳香族基を表わす。）で示される化合物を原料として、式（４）（式中、Ａｒは上記と同一の意味を表わし、Ｙは電子吸引性基を表わす。）で示される芳香族不飽和化合物を、よりアトムエコノミーが高く、工業的にもより有利に製造する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for industrially advantageously producing an aromatic unsaturated compound represented by formula (4) (wherein Ar is an aromatic group which may be substituted or a hetero-aromatic group which may be substituted; Y is an electron-attracting group) in high atom economy by using a compound represented by formula (1) (wherein Ar is the same as described above) as a raw material. - 特許庁