イオンビーム削りの英語

試料は集束イオンビーム法によって平削り(ミリング)された。例文帳に追加

A specimen was milled by the focused ion beam method.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

イオンビームによって所定部分が削り取られて、断層１６に平行な薄膜試料Ｍが作製される。例文帳に追加

A prescribed part is shaved by an ion beam, and the membrane sample M which is parallel to a fault 16 is manufactured. - 特許庁

まず集束イオンビーム1のガリウムの注入によってFIB-CVD遮光膜8がつきにくくなったバイナリマスクのハーフトーン欠陥2の一部分をガス支援エッチングでガラス基板まで削り込む。例文帳に追加

Part of the halftone defect 2 in the binary mask to which the FIB-CVD light shielding film 8 is made less attachable by implantation of gallium of focused ion beams 1 is shaved up to a glass substrate by gas assisted etching. - 特許庁

ブロック１２２の浮上面となる面にイオンビームを照射し、浮上面を削りとる加工を行いながら、薄膜抵抗体の抵抗値を検出することにより、抵抗値で浮上面の加工量をモニターする。例文帳に追加

As the work of shaving the levitating surface of the block 122 by irradiating it with an ion beam is carried out, the resistance value of the thin film resistor is detected whereby the amount of machining of the floating surface is monitored from the resistance value. - 特許庁

エミッタ１０は、例えば、比較的広い面積のファセット面を有したエミッタに対して、集束イオンビームによる微細加工装置によりリング状に溝１１を掘って削り落とし、その後、溝１１が形成されたエミッタ１０の先端に、再度熱電界を掛けることによって形成される。例文帳に追加

An emitter 10 is formed in such a way that a ring-shaped groove 11 is formed in an emitter having a facet surface of relatively wide area with a fine working device using focusing ion beams, for example, for shaving off the emitter, and a thermal electric field is applied to the tip of the emitter 10 in which the groove 11 is formed. - 特許庁