オーバー試験の英語

半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。例文帳に追加

To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁

破壊試験を行うことなく、オーバーヒートの発生を検出する焼入れ鋼のオーバーヒート検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide an overheat detection method for quenching steel with which the occurrence of overheat is detected without performing a destruction test. - 特許庁

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。例文帳に追加

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit. - 特許庁

オーバードライブの繰り返しに起因する接触部の折れや欠け等を防ぎ、正常な電気的試験を可能にすることにある。例文帳に追加

To achieve a normal electric test by preventing a contact part from being broken, chipped, or the like by the repetition of overdrive. - 特許庁

固体高分子形燃料電池の単電池に対して、開回路放置試験とクロスオーバー量測定とを交互に繰り返す。例文帳に追加

An open circuit standing test and a crossover amount measurement are alternately repeated to a unit cell of a polymer electrolyte fuel cell. - 特許庁

複数の被試験チャネルの組合せの各々から信号を取込み、取込み信号内のクロス・オーバー・ポイントを見つける。例文帳に追加

A signal is acquired from each of the combination of two or more channels under test, and cross over points in the acquired signal are detected. - 特許庁

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software. - 特許庁

臨床試験装置におけるサンプルキャリーオーバーの減少のための当技術分野における必要性に対応する、流体を吸引するためのプローブを含む臨床試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a clinical tester including a probe to aspirate a fluid coping with a need in the art for a reduction in sample carryover in clinical testers. - 特許庁