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テストデバイスの英語
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英訳・英語 testing device
「テストデバイス」を含む例文一覧
該当件数 : 24件
テスト装置は、被テストデバイス及びテストデバイスに対して、テスト信号群を入力する。例文帳に追加
A test unit inputs a test signal group to the device to be tested and the test device. - 特許庁
テスト信号に応答するテスト回路を有する被テストデバイスに対応したテスト回路を持ち、正常とされたテストデバイス、被テストデバイスの動作周波数に対応した第１クロックをテストデバイス及び被テストデバイスに供給するクロック生成装置を設ける。例文帳に追加
The system is provided with a clock generating unit which has a test circuit corresponding to a device to be tested having a test circuit responding to a test signal and which supplies first clocks corresponding to operational frequencies of a test device being normal and the device to be tested to the test device and the device to be tested. - 特許庁
被テストデバイスの不良箇所の位置を３次元的に特定する。例文帳に追加
To three-dimensionally locate failure places of a device to be tested. - 特許庁
テスト装置は、被テストデバイスのテスト結果を入力する。例文帳に追加
The test unit inputs the test result of the device to be tested. - 特許庁
テストデバイスは入力されたテスト信号群に対応して動作し、第１クロックに対応して被テストデバイスにテストパターン信号を供給し、被テストデバイスは第１クロックに対応して入力されたテストパターン信号で動作するとともにテスト結果を生成する。例文帳に追加
The test device is operated corresponding to the input test signal group, and supplies a test pattern signal to the device to be tested corresponding to the first clock, the device to be tested is operated by the test pattern signal input corresponding to the first clock, while generates a test result. - 特許庁
複数の被テストデバイスのテストを高速かつ個別に行えるテストボードを提供する。例文帳に追加
To provide a test board that can test multiple devices to be tested separately at high speed. - 特許庁
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「テストデバイス」を含む例文一覧
該当件数 : 24件
テストハンドラのプッシャとテストデバイスの間の接触状態を判定する。例文帳に追加
To determine a contact state between a pusher of a test handler and a testing device. - 特許庁
記憶・判定部７は、テストデバイス３０の表面温度情報が入力され、予め記憶されているテストデバイス３０が押圧子２２に良好に吸引固定されたときの所定温度Ｔｓとモニターされたテストデバイス３０の表面温度を比較し、吸引固定されたテストデバイス３０の接触状態の良否を判定する。例文帳に追加
A storage-determining section 7 inputs the surface temperature information on the test device 30; compares a predetermined temperature Ts, stored previously when the test device 30, is properly sucked and fixed to the pressing element 22 with the monitored surface temperature of the test device 30; and determines the quality of the contact state of the sucked and fixed test device 30. - 特許庁
プッシャ２０は、吸引固定されたテストデバイス３０を設定温度Ｔ１に保温する。例文帳に追加
The pusher 20 maintains the sucked and fixed test device 30 at a preset temperature T1. - 特許庁
そして、少なくとも一つの分散型テストデバイス１６において更新を実行する。例文帳に追加
Then, the update is executed on at least one distributed test device 16. - 特許庁
フィールド通信テストデバイスとこれを用いたフィールド通信テストシステム例文帳に追加
FIELD COMMUNICATION TEST DEVICE AND FIELD COMMUNICATION TEST SYSTEM USING THE SAME - 特許庁
続いて、信号発生部２がテスト用信号をテストデバイスＤＵＴに出力する。例文帳に追加
Next, a signal generator 2 outputs a test signal to the test device DUT. - 特許庁
分散型のテストデバイスシステムは、ユーザインタフェース１２、ユーザインタフェース１２と通信するサーバ１４、およびサーバ１４と通信する少なくとも一つの分散型のテストデバイス１６を含む。例文帳に追加
A distributed test device system includes a user interface 12, a server 14 communicating with the user interface 12 and at least one distributed test device 16 communicating with the server 14. - 特許庁
テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。例文帳に追加
The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively. - 特許庁
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