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英訳・英語 charge analysis


JST科学技術用語日英対訳辞書での「電荷解析」の英訳

電荷解析


「電荷解析」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 27



例文

プラズマディスプレイパネルにおける壁電荷状態の解析方法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD OF WALL CHARGE STATUS IN PLASMA DISPLAY PANEL - 特許庁

電荷分布の解析方法、電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置例文帳に追加

ANALYZING METHOD OF CHARGE DISTRIBUTION, ANALYZING METHOD OF ELECTROMAGNETIC FIELD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM, DESIGNING METHOD FOR IT, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁

CBEDによる構造解析が、結晶中の電荷密度分布の決定に発展させられた。例文帳に追加

Structure analysis by CBED was expanded to the determination of charge-density distribution in crystals.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

次に、前記解析対象の半導体装置の電荷の蓄積状態を観測する。例文帳に追加

Next, a charge accumulation state of the semiconductor device being the analysis target is observed. - 特許庁

荷電粒子線または電磁波が照射された物質における電荷分布およびポテンシャル分布を正確に解析できる電荷分布の解析方法、および、ポテンシャル分布の解析方法、それらを用いた電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an analyzing method of charge distribution as well as analyzing method of potential distribution which accurately analyzes charge distribution and potential distribution at a material to which charged particle beam or electromagnetic wave is projected, and analyzing method of electromagnetic field, charged particle optical system, designing method for it, and charged particle beam device. - 特許庁

Al-rich Al2O3の電荷蓄積層において、Alの組成の関数として電荷蓄積密度を解析し、電荷蓄積密度が最大となるような半導体メモリを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device, wherein charge storage density becomes max by analyzing the charge storage density as a function of composition of Al, in a charge storage layer of Al-rich Al_2O_3. - 特許庁

例文

放電開始判定基準ならびに放電による移動電荷量算出モデルの見直しを行ない、より現実に近い現象が再現可能な3次元計算モデルを有する放電解析方法、放電解析装置及びこれを応用する電子写真転写プロセス解析装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a discharge analysis method having a three-dimensional calculation model replicating a phenomenon further close to realty by reviewing a discharge start determination criteria and a moving charge amount calculation model by discharge; a discharge analyzer; and an electrophotographic transfer process analyzer using it. - 特許庁

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「電荷解析」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 27



例文

解析対象の半導体装置に対し、第1の照射パターンで、荷電粒子ビームを照射して、電荷を注入する。例文帳に追加

A charged particle beam is irradiated to a semiconductor device being an analysis target by a first irradiation pattern so as to inject charges. - 特許庁

中性子の入射により^10B拡散層10で発生したα線は、pn接合13の空乏層で電子−正孔対16を発生し、その電荷解析回路部に収集され、解析される。例文帳に追加

Upon injection of neutrons, the α rays generated at the ^10B diffusion layer 10 produce an electron-hole pair 16 at a depletion layer of the p-n junction 13, the electric charge of which is then collected to the analysis circuit portion for analysis. - 特許庁

好ましくは、浮遊粒子aについては電荷面602側の領域に属するものとの間での放電現象a2も解析し、浮遊粒子bについては電荷面604側の領域に属するものとの間での放電現象b2も解析する。例文帳に追加

Desirably, a discharge phenomenon a2 between the suspended particles (a) and those belonging to the charge surface 602 side is also analyzed concerning the suspended particles (a), and a discharge phenomenon b2 between the suspended particles (b) and those belonging to the area on the charge surface 604 side is also analyzed concerning the suspended particles (b). - 特許庁

全体制御部は、転写プロセスの解析を行うために、第1電界計算部12、放電判定前処理部13、放電開始判定部14、移動電荷量算出部15、放電電荷配置部16、第2電界計算部17、トナー挙動解析部18を備えて構成されている。例文帳に追加

An overall control part is composed so as analyze a transfer process, by comprising: a first electric field calculation part 12; a discharge determination pre-processing part 13; a discharge start determination part 14; a moving charge amount calculation part 15; a discharge charge arrangement part 16, a second electric field calculation part 17, and a toner behavior analysis part 18. - 特許庁

解析対象ネット1000に蓄積された電荷はプリアンプ3を介して外部に出力される一方で、前段ネット1100に蓄積された電荷は第2のプローブ針2を介して出力され前段ネットから排除される。例文帳に追加

Charges accumulated in the analysis subject net 1000 are output outside via the preamplifier 3, while charges accumulated in the front-stage net 1100 are output via the second probe needle 2 to be eliminated from the front-stage net. - 特許庁

放電電極のサイズが空間電荷の流動域に比べて非常に小さい系において、計算時間を短縮しながら、空間電荷流動の解析を好適に行なう。例文帳に追加

To analyze properly space charge flow, while shortening a calculation time, in a system wherein a discharge electrode size is very small, compared with a flowing area of the space charge. - 特許庁

また、解析領域を放電電極近傍とその外部の周辺領域に分割し、周辺領域のみ電荷流動計算を行ない、その時間ステップを、電荷流動域のセルサイズに基づいて妥当な値に決定する。例文帳に追加

An analysis domain is divided into the periphery of the discharge electrode and its outside peripheral domain, and charge flow calculation only in a peripheral domain is performed, and the time step is determined to be a proper value based on the cell size of a charge flow area. - 特許庁

例文

その際、第1電極上にセットされた試料チップを加熱した状態で第1電極及び該第1電極に対して所定の間隔をおいて相対配置される第2電極間に電圧を印加して第1電極上にセットされた試料チップの試料プローブを(+)電荷に帯電させると共に両者間の解析用試料を(−)電荷に帯電させて解析用試料を試料プローブに誘電吸着させる。例文帳に追加

The sample probe of the sample chip set on the first electrode is electrified to have the positive charge and simultaneously the analytical sample between both electrodes is electrified to have the negative charge, thereby to cause dielectric attraction of the analytical sample to the sample probe. - 特許庁

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charge analysis JST科学技術用語日英対訳辞書


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