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モデル膜構造の英語
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英訳・英語 model membrane structure
「モデル膜構造」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
ひとつのトランジスタを、そのままひとつのトランジスタで表すモデルを、モノトランジスタモデルと定義し、ひとつのトランジスタを、複数のサブトランジスタが直列に接続され、各々のサブトランジスタにゲート絶縁膜容量が接続された構造で表すモデルを、マルチトランジスタモデルと定義したとき、各々のトランジスタに対して、モノトランジスタモデルと、マルチトランジスタモデルとを、選択して用いる。例文帳に追加
When a model which represents one transistor as a single transistor is defined as a mono-transistor mode, and a model which represents one transistor as a structure that multiple sub transistors are connected in series and the gate insulation film capacitor is connected to each sub transistor is defined as a multi-transistor mode, the mono-transistor model or the multi- transistor model is chosen to simulate each transistor. - 特許庁
薄膜多結晶の膜構造モデルを用いた成長シミュレーションを併用することで、結晶解析の測定から薄膜多結晶の膜構造を同定する方法を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a method of identifying the film structure of a thin-film polycrystal on the basis of the measurement of crystal analytical data by jointly using a growth simulation using the film structure model of the thin-film polycrystal. - 特許庁
新規な構造モデルを有した金属複合超微粒子の製造方法を提供し、超微粒子結晶膜や超微粒子結晶及びその製造方法を実現する。例文帳に追加
To provide a method for manufacturing a metallic composite superfine particle having a new structural model and to provide a superfine particle crystal film and a superfine particle crystal and their manufacturing methods. - 特許庁
トランジスタのゲート上膜厚を計測する際、計測対象をゲート領域、活性領域、素子分離領域とそれぞれ異なる膜構造の合成で構成される光学モデルを作成し、フィッティングによりゲート上表面膜厚を算出する。例文帳に追加
When measuring the film thickness on the gate of the transistor, an optical model is prepared to constitute a measuring object by the composition of respective different film structures of a gate area, an active area and an element separation area, and the surface film thickness on the gate is calculated by fitting. - 特許庁
所望の人工組織を簡便かつ短期間に効率よく製造することができる汎用性を有する再構築人工組織の製造方法や、生体本来のバリアー機能を備えた細胞層と基底膜構造を有しており、化学物質等の薬理試験、毒性試験等へ有利に応用することができる組織モデルや臓器モデル等の再構築人工組織を提供すること。例文帳に追加
To provide a method of making a reconstructed artificial tissue having the versatility to permit the simple, rapid and efficient making of the desired artificial tissue, and the reconstructed artificial tissue, such as a tissue model and an organ model, which has a cell layer having the barrier function intrinsic to organisms and a basement membrane structure and can be advantageously applied to pharmacological tests, toxicity tests, etc., of chemical substances, etc. - 特許庁
本発明による分光エリプソメータを用いた薄膜n層構造の解析方法では、膜厚や複素屈折率などの組み合わせモデルを設定し、そのシミュレーションスペクトルを算出して、そのシミュレーションスペクトルと測定スペクトルとのフィッティングを広範囲極小値計算法(EBLMC)を使用して行うことにより、薄膜多層構造を決定する。例文帳に追加
To determine a thin-film multi-layer structure by setting a combined model of film thickness and complex index of refraction, calculating the simulation spectrum thereof, and fitting the simulation spectrum to measured spectrum by using Extended Best Local Minimum Calculation (EBLMC) in the analysis method of a thin-film n-layer structure by using a spectral ellipsometer. - 特許庁
エロージョン中心線分のエロージョンレートに基づいた磁場構造モデルの指定断面での静止エロージョンレート分布、磁石の回転に伴う回転エロージョンレート分布、更に上記回転エロージョンレート分布を用いた対象物上の成膜レート分布の計算方法。例文帳に追加
The method for calculating a stationary erosion rate distribution in the designated cross-section in the magnetic field structural model based on the erosion rate of the erosion central line segment, a rotary erosion rate distribution accompanying the rotation of the magnets, and further, a film deposition rate distribution on an object using the rotary erosion rate distribution, is disclosed. - 特許庁
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「モデル膜構造」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
膜厚や複素屈折率などの組み合わせモデルを設定し、測定スペクトルとのフィッティングを、入射角度を変えて有限繰り返し行うことにより、薄膜構造および、誘電率の波長依存性、組成比を精度よく正確に決定する基板上の化合物半導体層の組成決定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for determining a composition of a compound semiconductor layer on a substrate whereby a thin film structure, a wavelength dependence of a permittivity and a composition ratio are accurately and correctly determined by setting a combination model of a film thickness, a complex index of refraction and the like and finitely repeating fitting the model to a measured spectrum while changing an angle of incidence. - 特許庁
可視光を用いて光学的に膜厚を求める場合、45nmノード以降では対象パターンが検出波長の10分の1程度の大きさとなり解像度以下となるため、被計測対象を均一な層構造と仮定することができ、仮定したモデルを用いることにより短時間での膜厚計測を実現することができる。例文帳に追加
When determining the film thickness optically by using visible light, since an object pattern has the size of about one-tenth of a detection wavelength after 45 nm node to be below a resolution, the measuring object can be assumed as a uniform layer structure, and the film thickness measurement in a short time can be realized by using an assumed model. - 特許庁
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model membrane structure
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