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英訳・英語 bad data
「不良データ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 933件
このため、データ保持領域へのデータ書き込み不良およびデータ読み取り不良を防止することができる。例文帳に追加
This constitution can prevent the inferior data writing and reading to the data retainer region. - 特許庁
端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ設定方法例文帳に追加
CRIMPING FAILURE DETERMINATION DATA SETTING METHOD OF TERMINAL CRIMPING FAILURE DETECTION DEVICE - 特許庁
端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法例文帳に追加
POOR CRIMPING CONTACT DETERMINING DATA CREATION METHOD FOR POOR TERMINAL CRIMPING DETECTING DEVICE - 特許庁
不良波形データを蓄積した不良波形データベースから該当する回路の不良波形データを取り出し、波形発生部にて実体化する。例文帳に追加
A defective waveform data for a circuit is taken out of a defective waveform database where defective waveform data is accumulated, and materialized at a waveform generating part. - 特許庁
画像処理装置、データ不良検出システム及びデータ不良検出プログラム例文帳に追加
IMAGE PROCESSING APPARATUS, DATA FAILURE DETECTING SYSTEM AND DATA FAILURE DETECTING PROGRAM - 特許庁
欠陥マップデータを欠陥マップデータ読出し処理１１で読み出し、不良確率データを不良確率データ読出し処理１２で読み出す。例文帳に追加
Defect map data are read in a defect map data read processing 11 and failure probability data are read in a failure probability data read processing 12. - 特許庁
端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法例文帳に追加
CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD - 特許庁
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「不良データ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 933件
不良データベースの解決能力を改善する。例文帳に追加
To improve capability of solving a nogood database. - 特許庁
不良セクタの探索方法、データ記録装置、プログラム例文帳に追加
SEARCH METHOD OF BAD SECTOR, DATA RECORDER, AND PROGRAM - 特許庁
解析データベース９には不良形状認識部８によって得られた不良形状認識済みデータと不良発生部１１によって得られた不良形状データとが蓄積される。例文帳に追加
In an analytical database 9, defect-shape recognized data obtained by a defect-shape recognition part 8 and defect shape data obtained by the generation part 11 are stored. - 特許庁
合致しない場合は、再度不良波形データベースから別の不良波形を取り出し比較を行う。例文帳に追加
At disagreement, another defective waveform is taken out of the defective waveform database again for comparison. - 特許庁
不良が発生していた場合、データベース２内に不良情報として存在するか判断する（Ｓ６）。例文帳に追加
When the failure has been occurred, whether or not it exists in the database 2 as failure information is decided (S6). - 特許庁
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