使用性能試験の英語

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の非水系で実施する新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a new method to apply to a non-aqueous system of performance test to establish fine particle removal ability of a film and an integrity test of a non-destructive method for checking that a used film is within a set range in the fine particle removal performance, a test reagent to be applied to the test, and a method for manufacturing the reagent. - 特許庁

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a novel method for a performance test determining fine particle removal performance of a membrane and for a non-destructive integrity test confirming that the membrane after use is within a preset range in terms of the fine particle removal performance, a test reagent applied to the tests, and a method for producing the reagent. - 特許庁

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent. - 特許庁

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。例文帳に追加

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer. - 特許庁

性能試験の終わりに得られる監視結果を使用して、構成要素の性能をヒストグラムで表現する。例文帳に追加

The performance of the constituting element is expressed by a histogram by using a monitoring result obtained at the end of a performance test. - 特許庁

また、ＭＲＩ装置１００は、使用傾向解析部２２ａと、性能試験実行部２２ｃと、性能判定部２２ｄとを備える。例文帳に追加

The MRI apparatus 100 further includes a use tendency analysis part 22a, a performance test execution part 22c and a performance determination part 22d. - 特許庁

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認する完全性試験の新しい方法を提供する。例文帳に追加

To provide a performance test for deciding the performance for removing fine particles in a membrane, and to provide a new method for testing the integrity to verify whether the membrane, after use is within a preset range in the performance for removing fine particles. - 特許庁

実機や大掛かりな試験設備を用いることなく、実機の使用条件（芯振れ量、面振れ量、回転数、負荷トルク、等）に合わせて、カップリングの性能を試験することができるカップリング試験装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for testing a coupling, testing the performance of a coupling in accordance with use conditions (the amount of axial displacement, the amount of surface displacement, the number of revolutions, load torque, etc.) of actual equipment without the use of actual equipment or large scale test equipment. - 特許庁