光学式外観検査の英語

本発明はプリント基板に係り、フットプリントに改良を加えることにより、表面実装部品のはんだ付けの光学式外観検査に於て、検査性に優れたプリント基板を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a printed board excellent in inspection performance in an optical visual inspection of soldering with a surface mounting component by improving a footprint. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。例文帳に追加

To stably detect a micro black deep flaw more fine than a flaw detected by conventional filament type optical visual inspection and a glossy shallow defect flaw difficult to be detected. - 特許庁

また、皮膜２２が感光膜２３の色調とコントラストが得られる色調であるため、光学認識方式の自動外観装置を用いてマスクパターン２３Ａの検査を高精度に行うことが可能となる。例文帳に追加

Since the tone of the film 22 generates contrast with the tone of the photosensitive film 23, the mask pattern 23A can be inspected with high accuracy by using an automatic appearance inspection device by optical cognition method. - 特許庁

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail. - 特許庁