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光束計の英語

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英訳・英語 integrating photometer


和英日本標準商品分類での「光束計」の英訳

「光束計」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 162



例文

例文帳に追加

TWO-BEAM SPECTROPHOTOMETER - 特許庁

干渉例文帳に追加

TWO-BEAM INTERFEROMETER - 特許庁

干渉例文帳に追加

TWO-LUMINOUS FLUX POLARIZATION INTERFEROMETER - 特許庁

磁場測システム及びポンピング磁例文帳に追加

MAGNETIC FIELD MEASURING SYSTEM, AND OPTICAL PUMPING FLUXMETER - 特許庁

照射されたを受しての照度に関する情報を測する。例文帳に追加

An emitted beam is received to measure the information about the illuminance of the beam. - 特許庁

干渉の固定鏡調整方法例文帳に追加

FIXED MIRROR ADJUSTING METHOD OF TWO-BEAM INTERFEROMETER - 特許庁

例文

試料空間内の測点に集するを照射し、透過量を測する。例文帳に追加

Points of measurement in a sample space is irradiated with condensing light flux to measure the quantity of transmitted light. - 特許庁

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機械工学英和和英辞典での「光束計」の英訳

光束計


(積分)光束計


JST科学技術用語日英対訳辞書での「光束計」の英訳

日英・英日専門用語辞書での「光束計」の英訳

「光束計」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 162



例文

の形状、中の強度分布の決定方法、形状、中の強度分布測装置、波面測定装置、結像学系の調整方法、及び露装置の製造方法例文帳に追加

DETERMINATION METHOD AND MEASURING INSTRUMENT FOR SHAPE OF BEAM AND LIGHT INTENSITY DISTRIBUTION IN BEAM, WAVE FRONT MEASURING INSTRUMENT, REGULATION METHOD FOR IMAGE-FOCUSING OPTICAL SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD FOR EXPOSURE DEVICE - 特許庁

干渉の偏波依存性測定方法および装置例文帳に追加

POLARIZATION DEPENDENCY MEASURING METHOD AND DEVICE OF 2-LIGHT FLUX INTERFEROMETER - 特許庁

これらの設は本質的にファイバ中での自己収を減少させる。例文帳に追加

These designs substantially reduce self-focusing in the optical fiber. - 特許庁

波長λ1の及び波長λ2のが、発散または収の状態で対物レンズOBJに入射するようになっているので、集学系をより簡素な構成とすることができ、また対物レンズの学設上の自由度を高めることができる。例文帳に追加

Since the luminous flux of wavelength λ1 and the luminous flux of wavelength λ2 are arranged so as to be made incident to an objective lens OBJ in the state of divergent or convergent luminous flux, a condensing optical system can be constituted to be more simple, and a degree of freedom on a design of the objective lens can be increased. - 特許庁

干渉及び同干渉を用いた被測定物の形状測定方法例文帳に追加

TWO-LIGHT FLUX INTERFEROMETER AND METHOD FOR MEASURING SHAPE OF OBJECT TO BE MEASURED USING INTERFEROMETER - 特許庁

波長走査干渉は、源から射出されるの波長を変更しながら該から分割された参照と被検との干渉の信号に基づいて被検体までの絶対距離を測する。例文帳に追加

A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light. - 特許庁

測手段は、被検面でのの反射を部分的に遮るための遮部を有する学部材を備えている。例文帳に追加

The measuring means is provided with a measuring optical member having a light shielding part for partially shielding the reflection of light flux on the face to be inspected. - 特許庁

例文

ダイナミックレンジが広く、入射する量を正確に測できる測装置を提供する。例文帳に追加

To obtain the light measuring instrument which has a wide dynamic range and can accurately measure the quantity of incident luminous flux. - 特許庁

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