加温試験の英語

個別温度制御部は、被試験デバイスに対して試験が開始される前に個別ヒータを動作させて被試験デバイスの各々を目標温度まで加熱させ、試験が開始されると個別ヒータを停止させてもよい。例文帳に追加

The individual temperature controller may operate the individual heaters before the start of a test for the device, to heat each device up to the target temperature, and may stop the operation of the individual heaters when the test is started. - 特許庁

半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。例文帳に追加

To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature. - 特許庁

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。例文帳に追加

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere. - 特許庁

本発明の課題は、試験片を所定角度に回転できると共に試験片を所定位置に移動でき、かつ、試験片と加工具をそれぞれ単独に温度制御でき、しかも機械試験片の均熱性を補償できる加工熱処理再現試験装置を提供することにある。例文帳に追加

To obtain a working heat treatment reproducing test apparatus enabling not only the rotation of a test piece at a predetermined angle but also the movement thereof to a predetermined position, capable of independently controlling the temp. of the test piece and that of a working device and capable of compensating the uniform heating of a mechanical test piece. - 特許庁

供試体の２面を異なる温度に加熱して試験できるようにする。例文帳に追加

To perform a high-temperature compression test of a test piece by heating two surfaces of the test piece to different temperatures. - 特許庁

電子部品の温度印加方法および電子部品試験装置例文帳に追加

METHOD OF APPLYING TEMPERATURE OF ELECTRONIC COMPONENT AND ELECTRONIC COMPONENT TESTER - 特許庁

高温加熱後、被試験回路１４０１の遅延時間を測定する。例文帳に追加

After the high-temperature heating, the delay time of the tested circuit 1401 is measured. - 特許庁

環境試験装置１ではワーク載置面温度制御機構５によって所定温度に制御されているワーク載置面４ａに載せた被試験品３が冷却あるいは加熱されて所定の試験温度に移行する。例文帳に追加

This environment testing device 1 cools or heats the testing object 3 placed on a work placing surface 4a controlled in the prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 5, and transfers the testing object to a prescribed testing temperature. - 特許庁