単極針電極の英語

針状の放電電極の損傷を防止して簡単に清掃を行うことのできる電極用清掃用具を提供する。例文帳に追加

To provide an electrode cleaner capable of easily cleaning a needle-like discharge electrode while preventing the damage of the discharge electrode. - 特許庁

簡単な構成で針電極部に付着した放電生成物だけでなく針電極部のトナー汚れも確実に除去でき、放電ムラを抑制して画像ノイズの発生を防止できるコロナ放電装置を提供する。例文帳に追加

To provide a corona discharging device which can securely remove not only discharge products sticking on a needle electrode part, but also toner dirt at the needle electrode part with simple constitution and can prevent image noise from being generated by suppressing discharge unevenness. - 特許庁

簡単に針状電極を高精度に形成し、製造コストを削減することのできる空気清浄機を提供する。例文帳に追加

To provide an air purifier capable of simply forming its acicular electrode in high accuracy and reducing its production cost. - 特許庁

測定物体と探針２の間に働く原子間力等により探針２の位置が変化すると、その変位はSi単結晶１を介してＰＺＴ４に伝わり、ＰＺＴ４を変形させるので、下部電極３と上部電極５間に電圧が発生する。例文帳に追加

When the position of a probe 2 is changed by atomic force or the like operating between a measurement object and the probe 2, the displacement is transferred to a PZT 4 through Si single crystal 1 for deforming the PZT 4, thus generating voltage between a lower electrode 3 and an upper electrode 5. - 特許庁

簡単で特別な後処理を必要とせずにチップ電極等の酸化皮膜を除去し、細いプローブ針の接触圧を小さくすると共に針の寿命を延ばせる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of reducing a contact pressure and extending a service life of a thin probe by removing an oxide film from a chip electrode easily without requiring any special post-treatment. - 特許庁

アルミ箔を使用した紙容器であっても針状電極を紙容器に刺して簡単にピンホール検査をすることのできるピンホール検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pinhole inspection device capable of performing simply pinhole inspection by piercing a needle electrode into a paper container even in the case of a paper container using an aluminum foil. - 特許庁

厚みが薄い試験対象ウエハであっても撓みなく支持できるとともに、簡単な構造で試験対象ウエハの裏面電極にプローブ針を確実かつ簡便に接触させることができる半導体測定装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor measuring device in which even a thin wafer to be tested can be supported with no deflection, and a probe needle can be brought into contact with the back electrode of a wafer to be tested reliably and easily with a simple structure. - 特許庁