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主な英訳reference material

JST科学技術用語日英対訳辞書での「参照試料」の英訳

参照試料



「参照試料」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 144



例文

参照試料の測定頻度を減少して行っても良い。例文帳に追加

The measurement may be performed by reducing the measurement frequency of the reference sample. - 特許庁

時間分解ESR信号は主試料室のみに発生し、動的キャリア信号は主試料室と参照試料室の両方に発生する。例文帳に追加

A time-resolved ESR signal is generated in only the main sample chamber and a dynamic carrier signal is generated in both of the main sample chamber and the reference sample chamber. - 特許庁

試料及び空洞共振器からなる試料室を2組用い、一方の試料室(主試料室)を磁場の中、もう一方(参照試料室)を磁場の外におく。例文帳に追加

Two sets of sample chambers comprising a sample and a cavity resonator are used, one sample chamber (a main sample chamber) is placed inside a magnetic field, and the other sample chamber (a reference sample chamber) is placed outside the magnetic field. - 特許庁

X線ホログラム撮像用の試料構造体に、参照光が通過する実効的に小さな参照光孔を容易に形成する。例文帳に追加

To form easily an effectively small reference light hole for passage of reference light therethrough in a sample structure for X-ray hologram imaging. - 特許庁

また結晶の完全性が保証された参照試料にX線を照射したときに参照試料にて回折した回折X線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「参照試料の回折X線強度比」とする。例文帳に追加

Further, the intensity of diffracted X rays, which are diffracted by a reference specimen when X rays are applied to the reference specimen with its crystal completeness assured, is detected on a wide opening angle condition and on a narrow opening angle condition, with a relative ratio between the two taken as "a diffracted X-ray intensity ratio of the reference specimen". - 特許庁

さらに、参照波に試料11からの電磁波を遮蔽するシールド壁を設ける。例文帳に追加

Furthermore, a shield wall to shield an electromagnetic wave from the sample 11 is installed in a reference wave. - 特許庁

例文

参照信号に同期した音波を窒化物半導体の試料15に照射する。例文帳に追加

A sound wave synchronized with a reference signal is emitted to a sample 15 of the nitride semiconductor. - 特許庁

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クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「参照試料」の英訳

参照試料

「参照試料」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 144



例文

次いで、測定部位13の近傍に、試料20を貫通する参照光用穴24を形成する。例文帳に追加

Next, a hole 24 for reference light penetrating through the sample 20 is formed near the measuring part 13. - 特許庁

生物学的材料の試料が寄託されている寄託機関及び機関が試料に付与した参照番号例文帳に追加

The depositary institution with which a sample of biological material has been deposited and the reference number that the institution has accorded the sample; - 特許庁

これにより、未知試料のイオンと参照標準試料のイオンは同一条件で質量分離される。例文帳に追加

Hereby, mass spectrometry of both the ions of the unknown sample and the ions of the reference standard sample can be executed under the same conditions. - 特許庁

試料セル200は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料206を通る試料光ビームと試料206を通らない参照光ビームとを作り出す参照面202と、試料206を間に挟んで参照面202に対して平行に位置する反射面204とを有している。例文帳に追加

The sample cell 200 has a reference surface 202 for generating sample light beams passing through the sample 206 and reference light beams not passing through the sample 206 by transmitting a part of the incident light beams and reflecting the residual part, and a reflection surface 204 positioned in parallel with the reference surface 202 across the sample 206. - 特許庁

また、バッファーロッドと、固体試料(或いは固体参照試料)との間にスペーサを設置することにより、バッファーロッドと固体試料(或いは固体参照試料)との距離、及び、平行度を調節する機構を不要とし、装置の小型化と計測の簡便化を可能とする。例文帳に追加

Further, a mechanism for regulating the distance and parallelism of a buffer rod and a solid sample (or a solid reference sample) is dispensed with by installing a spacer between the buffer rod and the solid sample (or the solid reference sample) to enable the miniaturization of the measuring instrument and the simplification of measurement. - 特許庁

参照電極を二つに分け、試料が該二つに分けた参照電極の一方にしか接触していない場合に、不十分な試料であるとして使用者に知らせる電気化学的センサ。例文帳に追加

The electrochemical sensor having two split reference electrodes informs a user of a fact that a specimen is insufficient when the specimen is in contact with only one of the two split reference electrodes. - 特許庁

試料を分析装置に注入する際は、サンプリングニードル5を試料容器3上まで移動させた後((A)を参照。)、サンプリングニードル5を先端部がセプタム26を貫通するまで降下させる((B)を参照。)。例文帳に追加

When the sample is injected into an analyzing apparatus, a sampling needle 5 is moved to a position above a sample container 3 (see (A)), and then the sampling needle 5 is moved down so that the tip of the sampling needle 5 penetrates the septum 26 (see (B)). - 特許庁

例文

参照画像には、画像取得部4によって得られた試料表面の画像、セル参照画像生成部301からの画像、CADデータ参照画像生成部302からの画像が含まれる。例文帳に追加

The reference image includes an image of a sample surface acquired by an image acquiring section 4; an image from a cell reference image producing section 301; and an image from a CAD data reference image producing section 302. - 特許庁

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