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収束電子回折の英語
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英訳・英語 convergent‐beam electron diffraction
「収束電子回折」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 16件
収束電子回折法例文帳に追加
収束電子回折による結晶格子定数測定法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR CRYSTAL LATTICE CONSTANT BY CONVERGENCE ELECTRON DIFFRACTION - 特許庁
この図は、電子回折の3つのモードを説明する: 制限視野回折、ナノ領域電子回折、収束電子回折である。例文帳に追加
This figure illustrates three modes of electron diffraction: selected-area electron diffraction, nano-area electron diffraction and convergent-beam electron diffraction. 発音を聞く - 科学技術論文動詞集
収束電子線回折を用いた材料の構造分析方法例文帳に追加
METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF MATERIAL USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION - 特許庁
収束電子回折を用いた、物性の新規な測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a novel method for measuring physical property by using a convergent beam electron diffraction. - 特許庁
転位のバーガーズベクトルは、LACBED(大角度収束電子回折)によって決定できる。例文帳に追加
The Burgers vectors of dislocations can be determined by LACBED (large-angle convergent-beam diffraction).発音を聞く - 科学技術論文動詞集
収束電子回折法による局所領域の格子歪み測定方法及びその測定装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR LATTICE DISTORTION MEASUREMENT IN LOCAL REGION IN CONVERGENT ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁
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Weblio例文辞書での「収束電子回折」に類似した例文 |
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収束電子回折
an election that participates in chemical bonding, called {valence election}
a device that makes tuning frequencies digital
an electron with a negative charge
fix the electrical components.
「収束電子回折」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 16件
収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡12を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。例文帳に追加
This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample. - 特許庁
収束電子回折(用の)カメラは、1937年、メーレンシュテットにより、45kVでの稼動に対して(45kVの加速電圧での稼動条件で使えるように)設計された。例文帳に追加
A convergent-beam diffraction camera was designed by Moellenstedt in 1937 for operation at 45 kV.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
微小領域において格子定数の6つのパラメータ全てを測定できる収束電子回折測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a convergence electron diffraction measuring method capable of measuring all of six parameters of lattice constants in a microregion. - 特許庁
試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数6つ(a、b、c、α、β、γ)全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。例文帳に追加
In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc. - 特許庁
その本は最近の進展に関する議論、特に収束電子回折、電子線トモグラフィー、ホログラフィーおよび、結晶格子の高分解能の分野を含む。例文帳に追加
The book includes discussion of recent progress, especially in the area of convergent-beam electron diffraction, electron tomography, holograpy and the high resolution of crystal lattices. 発音を聞く - 科学技術論文動詞集
回折面アパチャー22を通過した電子は、中間レンズ電極部30内に形成された中間レンズ28によって中間アパチャー32に収束され、レンズ電極部40内の後段の静電レンズ38に向けられる。例文帳に追加
Electrons, passing through the diffraction plane aperture 22, are converged into an intermediate aperture 32 by an intermediate lens 28, formed in an intermediate lens electrode portion 30 and directed to a rear-stage electrostatic lens 38 in a lens electrode portion 40. - 特許庁
電子線を収束して結晶基材の局所領域に照射し、スクリーン上に現れた透過電子線と回折電子線のうち、平行な欠損線と過剰線より成る菊地線の組の間の距離を計測し、その結果に基づいて該局所領域の格子歪を測定するように構成する。例文帳に追加
Electron beam is converged to irradiate the local region of the crystal base material and the distance between the sets of Kikuchi lines each consisting of deficit and excess lines parallel to each other in the transmitted and diffracted electron beams appearing on a screen is measured and, on the basis of the measured result, the lattice strain of a local region is measured. - 特許庁
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