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合マーク合わせ法の英語
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Weblio専門用語対訳辞書での「合マーク合わせ法」の英訳 |
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合マーク合わせ法
「合マーク合わせ法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 189件
位置合わせマークの形成方法例文帳に追加
FORMATION METHOD OF ALIGNMENT MARK - 特許庁
露光方法および位置合わせマーク例文帳に追加
EXPOSURE METHOD AND POSITION ALIGNMENT MARK - 特許庁
位置合わせマークの形成方法例文帳に追加
METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK - 特許庁
重ね合わせマーク、重ね合わせマークの設計方法および重ね合わせ測定の方法例文帳に追加
OVERLAY MARK, METHOD OF OVERLAY MARK DESIGN, AND METHOD OF OVERLAY MEASUREMENT - 特許庁
マーク位置検出装置、マーク位置検出方法、重ね合わせ測定装置、および、重ね合わせ測定方法例文帳に追加
MARK LOCATION DETECTING APPARATUS, MARK LOCATION DETECTING METHOD, SUPERIMPOSITION MEASURING APPARATUS, AND SUPERIMPOSITION MEASURING METHOD - 特許庁
マーク位置検出装置、マーク位置検出方法、重ね合わせ測定装置、および、重ね合わせ測定方法例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING MARK POSITION AND SUPERPOSITION - 特許庁
アラインメントマーク、合わせマーク及び半導体装置の製造方法例文帳に追加
ALIGNMENT MARK, REGISTRATION MARK, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD - 特許庁
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「合マーク合わせ法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 189件
位置合わせ用マーク及びこれを用いた位置合わせ方法、素子の転写方法例文帳に追加
POSITIONING MARK AND POSITIONING METHOD USING THE SAME, TRANSFER METHOD OF ELEMENT - 特許庁
重ね合わせ測定マーク及びその測定方法と重ね合わせ測定マークを有する半導体装置例文帳に追加
MARK AND METHOD FOR OVERLAY MEASUREMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING THE MARK - 特許庁
位置合わせマーク、電子基板、半導体装置及び位置合わせマークの形成方法例文帳に追加
ALIGNMENT MARK, ELECTRONIC BOARD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK - 特許庁
重ね合わせ精度測定マークおよび重ね合わせ精度測定方法例文帳に追加
SUPERPOSITION ACCURACY MEASUREMENT MARK AND SUPERPOSITION ACCURACY MEASURING METHOD - 特許庁
パターン露光用位置合わせマーク及び位置合わせ方法及び露光装置例文帳に追加
MARK AND METHOD FOR ALIGNMENT FOR PATTERN EXPOSURE, AND ALIGNER - 特許庁
ホログラム位置合わせマーク及びその作製方法例文帳に追加
HOLOGRAM ALIGNMENT MARK AND ITS MANUFACTURE - 特許庁
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