導通チェックの英語

さらに、前記電力供給系の着脱可能に接触する接点には導通チェック装置を備えた。例文帳に追加

The apparatus, further, includes a cable check device at a contact point in detachable contact with the power supply system. - 特許庁

電気的検査装置４はテスタなどで構成され、電子機器に取り付ける基板の導通チェックを行う。例文帳に追加

The electrical inspection device 4 is composed of the tester, etc. to check electrical conduction of the substrate attached in the electronic apparatus. - 特許庁

小型化・高密度化が可能で、導通試験や回路動作のチェックが容易なフレキシブル多層配線板を提供する例文帳に追加

To provide a flexible multilayer wiring board of a structure, wherein the miniaturization of the wiring board and an increase in the density of the wiring board are possible and a test on continuity and a check on the operation of a circuit facilitated. - 特許庁

そして、各ＴＥＧ素子Ｔｒをオンさせた時における、当該ＴＥＧ素子Ｔｒによる配線済素子Ｑ１，Ｑ２の導通状態をチェックする。例文帳に追加

Then, when the TEG element Trs are respectively turned on, the wired elements Q1 and Q2 are checked for continuity by the TEG element Trs. - 特許庁

雄、雌両端子の接続状態を導通チェックのみによって簡単に確認し、その正否を正確に判別する。例文帳に追加

To confirm a connection state of male and female terminals in a simple way with conduction check alone and precisely distinguish its right and wrong. - 特許庁

スイッチ端子がコネクタタイプの電磁スイッチにおいて、コネクタを外すことなく導通チェックが可能な電磁スイッチを提供すること。例文帳に追加

To provide an electromagnetic switch with a switch terminal of a connector type, for allowing conductivity check without removing a connector. - 特許庁

ドライエッチングされなかったＢ、Ｃ部分のチェック用導電膜（ノンドープポリシリコン膜）１７ｂと１７ｃ間の電気的な導通をチェックすれことにより、Ａ部分のノンドープポリシリコン膜１７が完全に除去されたか否かを正確に判断し、適量のドライエッチングを施す。例文帳に追加

This manufacturing method is designed to determine whether or not an oxide film 13 in a portion A is completely removed by checking electrical conduction between checking conducting films (non-doped polysilicon film 17) 17b and 17c in portions B and C which have not been dry-etched, whereby dry etching can be performed in an appropriate amount. - 特許庁

基板と電子部品とを半田接合する場合に，溶融した半田が好適なフィレットを形成したときに，半田が導通チェック端子と導通する。例文帳に追加

In the case of bonding the substrate and the electronic component by the solder, when melted solder forms a suitable fillet, the solder is conducted with the conduction check terminal. - 特許庁