散乱相の英語

後方散乱ベースのトランスポンダのための位相変調回路例文帳に追加

PHASE MODULATION CIRCUIT FOR TRANSPONDER BASED ON BACK-SCATTERING - 特許庁

位相変調型干渉法を用いた動的光散乱測定装置例文帳に追加

DYNAMIC LIGHT SCATTERING MEASURING DEVICE USING PHASE MODULATION TYPE INTERFEROMETRY - 特許庁

動力学理論は、繰り返し散乱および入射波と散乱波の動力学的な相互作用を考慮に入れる。例文帳に追加

The dynamical theory takes account of repeated scattering and of the dynamical interaction of the incident and scattered waves.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

後方散乱電子による電子チャンネリングパターンの形成は、相反定理により後方散乱電子回折パターンの形成と関係している。例文帳に追加

The formation of the electron channeling pattern by backscattered electrons is related to that of the electron backscatter diffraction pattern by the reciprocal theorem.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

高出力レーザから出力されたレーザ光を被散乱物質に照射し、被散乱物質を透過したレーザ光を位相共役鏡にて折り返して再度被散乱物質を透過させることにより、被散乱物質を往復したレーザ光が通常の約２倍の散乱光を発生させることができることを特徴とするマルチパスレーザ散乱測定方法。例文帳に追加

The method for measuring multipath laser scattering, by irradiating, with the laser beam output from a high output laser, the substance to be scattered, folding the laser beam passing through the substance with a phase conjugate mirror, and passing the beam through the substance, the laser beam reciprocated through the substance can generate about twice of scattered light as large as a normal laser beam. - 特許庁

光散乱シートは、互いに屈折率が異なる複数の樹脂をスピノーダル分解により相分離させ、入射光を等方的に散乱する光散乱層を形成することにより製造できる。例文帳に追加

Subjecting a plurality of resins with refractive indexes different from one another to phase separation via spinodal decomposition and forming a light scattering layer bringing about isotropic scattering of incident light manufacture the light scattering sheet. - 特許庁

受信信号の平均相関行列の固有値解析を行い、各目標散乱点から反射されたパルス信号の遅延時間と各目標散乱点の反射強度を推定して目標散乱点数を推定する。例文帳に追加

The characteristic value of the means correlation matrix of reception signals is analyzed to estimate the delay time of the pulse signals reflected from each target scattering point and the reflection intensity of each target scattering point and to estimate the number of the target scattering points. - 特許庁

全測定値に関する整合位相基準を保証して行列の散乱パラメータを決定する光デバイスの散乱行列の散乱パラメータを割り出し、これによりデバイスの全ての測定可能な特性が当該散乱パラメータから直接計算できるようにする方法と装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for determining scattering parameters of a scattering matrix of a light device which determines scattering parameters of a matrix while securing alignment phase standards regarding all measurements, thereby enabling the direct calculation of all measurable properties of the device from the scattering parameters. - 特許庁