方位マークの英語

現在時刻における天体物の方位を算出して、その方位の方向を指すように日中は太陽の位置から算出された日影マーク５０ａを方位指示マークとして表示する。例文帳に追加

The directions of astronomical objects at the moment are calculated and a shadow mark 50a calculated based on a position of the sun is shown as a direction indication mark in the daytime so as to show a direction of the orientation. - 特許庁

探索マークと方位指示マークが表示されているので、この方位指示マークの方向に自分の影などを合わせることで、現在位置での東西南北の大凡の方位を把握できるから、どの方向にどれだけ進めば目的地に到達できるかを知ることができる。例文帳に追加

As both the search marks and the direction indication marks are shown, a user can roughly figure out four points of the compass on the present position by overlapping the user's own shadow over the direction indication mark so that the user can find out the directions and distances to the destinations. - 特許庁

前記非エピ成長ドットマーク(M) の群にあって最も視認性に優れたドットマーク(M) を抽出し、このドットマーク(M) とウェハ中心とから結晶軸の方位を特定する。例文帳に追加

The dotted mark (M), most superior in visibility in the group of the non-epitaxially grown dotted marks (M), is extracted from the group of the non-epitaxially grown dotted marks (M) and the orientation of the crystal axis of the wafer W is specified from this dotted mark (M) and the center of the wafer (W). - 特許庁

層厚マーカー９９の下段マーク部９９Ａは、混合米の好適な層厚に対応した離間寸法位置に配置され、上段マーク部９９Ｂは、下段マーク部９９Ａよりも一粒分だけ上方位置に配置されている。例文帳に追加

The lower marking part 99A of the marker 99 is arranged at a position with a distance corresponding to a suitable layer thickness of mixed rice, and the upper marking part 99B is arranged at a position higher than the lower marking part by one grain. - 特許庁

他方、位置合わせマークが含まれるマーク付け替え領域と、付加情報の記載領域とが重なり合う場合には、元の位置合わせマークを消去することなくこれに新しい位置合わせマークを合成させる重ね書き処理を行う。例文帳に追加

Besides, when a mark re-attaching area including the alignment mark and an additional information writing area are located to overlap each other, an overlap writing treatment for synthesizing the original alignment mark and the new alignment mark is done without erasing the original alignment mark. - 特許庁

半導体ウェーハの結晶方位を示す結晶方位マーク１２が形成されたウェーハサポートプレート１０の支持面１１において半導体ウェーハを支持し、その結晶方位マーク１２によって常に結晶方位を認識できるようにする。例文帳に追加

The semiconductor wafer is supported by the supporting surface 11 of a wafer support plate 10 on which a crystal azimuth mark 12 indicating the crystal azimuth of the semiconductor wafer is formed and the crystal azimuth can be always recognized by the crystal azimuth mark 12. - 特許庁

光学的な視認性に優れ、結晶軸の方位を示す特異な形態をもつドットマーク群を有する半導体ウェハと同ドットマーク群による結晶軸の方位特定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor wafer having a group of dotted marks, which are superior in optical visibility and have a peculiar form to show the orientation of the crystal axis of the wafer, and to provide a specifying method for the orientation of the crystal axis using the group of the dotted marks. - 特許庁

設置が完了すると、各ランドマーク装置が周囲のランドマーク装置の番号とその方位を調査して隣接装置情報を生成し、さらにランドマーク装置同士が隣接装置情報を交換することによって自動的に地図情報が生成される。例文帳に追加

When setting has been completed, each landmark device investigates numbers and azimuths of peripheral landmark devices and generates adjacent device information, and map information is automatically generated by exchanging the adjacent device information among respective landmark devices. - 特許庁