明視野像の英語

複合画像の共焦点像の明るさと、明視野画像の明るさとをほぼ等しくし、最適な共焦点画像を得る。例文帳に追加

To obtain an optimum confocal image while nearly equalizing the lightness of a light field image to the lightness of a confocal image of a composite image. - 特許庁

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。例文帳に追加

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image. - 特許庁

対象粒子を暗視野照明する暗視野照明部と、暗視野照明された対象粒子の像を撮像する撮像部と、撮像された像の輝度に基づいて粒子径を算出する演算部とを備える粒子径計測装置。例文帳に追加

This particle diameter measuring device is equipped with a dark field illumination part for illuminating object particles in a dark field, an image pickup part for picking up an image of the object particles illuminated in the dark field, and an operation part for calculating particle diameters based on brightness of the picked-up image. - 特許庁

試料上における走査範囲が変化しても、明視野信号電子と暗視野信号電子を明確に分離し、高精度の明視野信号像と暗視野信号像を得ることができる走査透過荷電粒子線装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a transmission-type scanning charged-particle beam device capable of obtaining highly precise bright and dark field signal images, by clearly separating a bright field signal electron from a dark field signal electron even if a scanning range on a sample changes. - 特許庁

明領域測定の間に、検出器の開口は、明視野の像内に位置付けられる。例文帳に追加

During a bright area measurement, the aperture of the detector is positioned within the image of the bright field. - 特許庁

画像信号処理装置１００の明視野画像信号処理回路１４０は、明視野画像信号を処理して、半導体チップの表面の異常を検出する。例文帳に追加

A bright field image signal processing circuit 140 of an image signal processing apparatus 100 processes the bright field image signal, and detects the fault on the surface of the chip. - 特許庁

視野の大きさを変えた場合にもその視野上で撮像対象を均一に照明することが可能な撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging apparatus capable of uniformly lighting an imaging object on a visual field even when the size of the visual field is changed. - 特許庁

暗視野照明及び明視野照明による画像を独立かつ同時に取得することにより、検査時間を短縮して、作業効率を向上させる。例文帳に追加

To improve a working efficiency through reduction of an inspection time by obtaining images by dark-field illumination and bright-field illumination independently and simultaneously. - 特許庁