検査の分類の英語

この状態は回路パターン検査後の自動欠陥分類時に維持される。例文帳に追加

This condition is maintained, when an automatic defect classification is performed after the circuit pattern inspection. - 特許庁

この状態は回路パターン検査後の自動欠陥分類時に維持される。例文帳に追加

This condition is maintained at automatic defect classification time, after circuit pattern inspection. - 特許庁

チップ形電子部品の電気特性を検査し、前記検査の結果に基づきチップ形電子部品を分類する分類部分を有するチップ形電子部品特性検査分類装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for characteristic inspection and classification of a chip-type electronic component, which includes a classification portion that inspects electrical characteristics of the chip-type electronic component and classifies the chip-type electronic components based on the inspection results. - 特許庁

検査システム１に、検査対象の画像を取得する撮像装置２、検査および欠陥の自動分類を行う検査・分類装置４、および、ホストコンピュータ５を設ける。例文帳に追加

An inspection system 1 is provided with an image pickup device 2 which obtains an image of the object to be inspected, an inspecting and classifying device 4 which performs inspection and automatic classification of defects, and a host computer 5. - 特許庁

検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image. - 特許庁

本検査支援システムは、複数の検査条件によって検査装置が検出した各欠陥を、その欠陥が検出された検査条件の組み合わせで分類し、各分類ごとに、その分類に属する欠陥の、検査対象の外観上における分布を、当該分類に属する欠陥の位置情報に基づき算出する。例文帳に追加

The inspection supporting system sorts each defect detected with an inspection apparatus conforming to a plurality of inspecting conditions in accordance with combinations of the inspecting conditions for detecting respective defects, and calculates for each sorting visual distribution of the inspection objects of the defect belonging to each sorting on the basis of the location information of the defect belonging to the relevant sorting. - 特許庁

小型半導体等の電子部品について電気特性検査及び外観検査を行い、特性ランクにより電子部品を分類し、収納部に収納する電子部品の検査分類装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test classification system of electronic components which conducts electric characteristic test and visual inspection of electronic components such as small semiconductor, classifies into characteristic ranks and contains in a containing part. - 特許庁

回転する円盤に電子部品を対で順次供給し、保持させ、搬送させて検査し、検査の結果に基づき電子部品を分類する電子部品特性検査分類装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for inspecting and classifying electronic component characteristics, in which electronic components are successively supplied in pairs onto a rotating disk, held, transported for inspection, and then classified on the basis of the inspection result. - 特許庁