検査体積の英語

電極に対応する検査領域を三次元計測し、当該検査領域におけるクリームハンダの体積値（測定値）を測定する。例文帳に追加

Three-dimensional measurement of the region to be inspected corresponding to the electrode is carried out so as to measure the volume value (measured value) of the cream solder in the inspection region. - 特許庁

はんだ印刷検査機１０は、検査データ管理装置１０２から検査対象のはんだ付け部位に対応するクリームはんだの体積を読み込み、これに基づき判定基準値を決定する。例文帳に追加

The solder printing inspection machine 10 reads the volume of the cream solder corresponding to the soldered portion to be inspected from an inspection data management device 102, and determines a determination criterion value based on the read volume. - 特許庁

レーザ光を発射するレーザ装置５およびレーザ装置５が発射するレーザ光を照射され、超音波Ｃを発生する送信ダイヤフラム３９を有する体積検査用超音波送信部１７を備え、体積検査用超音波送信部１７の送信ダイヤフラム３９が発生する超音波Ｃを被検体に照射して体積検査を行う超音波検査装置１を提供する。例文帳に追加

The ultrasonic inspection device 1 comprises a laser device 5 for emitting laser light and an ultrasonic transmission section 17 for volume inspection having a transmission diaphragm 39 for generating ultrasonic waves C, which performs volume inspection by applying the ultrasonic waves C generated by the transmission diaphragm 39 to the object to be inspected. - 特許庁

また、検査部２１ｂは、画像処理あるいは検査において、Ｘ線画像６１ａ，６１ｂに基づいて物品Ｇの体積を算出し、所定の基準体積と比較する。例文帳に追加

The inspection section 21b calculates the volume of the article G based on the X-ray images 61a and 61b in image processing or inspection, and compares it with a predetermined reference volume. - 特許庁

被検査物のＸ線透過像からその大きさや体積を求め、正常／異常の判定を行うＸ線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation. - 特許庁

まず照明装置４１により、体積型ホログラム層１１を有する体積型ホログラム積層体１０に対して体積型ホログラム層１１の特定波長と異なる波長の検査光Ｌ１を照射する。例文帳に追加

At first, the volume type hologram laminate 10 having the volume type hologram layer 11 is irradiated with inspection light L1 of a wavelength different from the specific wavelength of the volume type hologram layer 11 by an illuminating device 41. - 特許庁

体積型ホログラム層の再生光の影響を受けることなく、体積型ホログラム積層体の欠陥を精度良く安定して検出することが可能な体積型ホログラム積層体の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a volume type hologram laminate capable of accurately and stably detecting the flaw of the volume type hologram laminate without undergoing reproduction light on a volume type hologram layer. - 特許庁

その修正後のクリームハンダＣの体積が測定され、クリームハンダＣに関し良否の検査が行われる。例文帳に追加

The volume of the cream solder C after correction is measured, and the quality on the cream solder C is inspected. - 特許庁