欠陥の分類の英語

欠陥分類方法及びその装置例文帳に追加

DEFECT SORTING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁

欠陥分類装置、欠陥分類方法およびそのコンピュータ・プログラム例文帳に追加

DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND ITS COMPUTER PROGRAM - 特許庁

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。例文帳に追加

An image of the detected defect is supplied to a defect classification means (36), and the defect is classified based on the shape or the brightness distribution of the image of the defect. - 特許庁

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。例文帳に追加

An image of a detected defect is supplied to defect classifying means (36), and the defect is classified based on a shape of the defect image and brightness distribution. - 特許庁

欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION - 特許庁

マスクの欠陥分類方法および分類装置例文帳に追加

DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE OF MASK - 特許庁

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects. - 特許庁

半導体欠陥分類方法、半導体欠陥分類装置、半導体欠陥分類装置のプログラム、半導体欠陥検査方法、および、半導体欠陥検査システム例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR CLASSIFYING SEMICONDUCTOR DEFECTS, PROGRAM FOR THE SAME DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEFECTS - 特許庁