状態近似の英語

状態１で近似直線を連続して例えば１０回検出すると、状態２に移行する。例文帳に追加

When the approximate line is detected ten times, for instance, consecutively in the status 1, a shift is made to a status 2. - 特許庁

予めウエハＷの段差状態を検出し、そのウエハＷの表面に近似する近似平面ＡＰＦを求める。例文帳に追加

The step on a wafer W is detected in advance, and an approximation surface APF that is approximated to the surface of the wafer W is obtained. - 特許庁

伝搬路状態情報生成部は、ＣＲＳ用伝搬路推定部が推定した伝搬路状態を、予め定めた値で近似し、近似した伝搬路状態情報を生成する。例文帳に追加

A propagation path state information generation unit generates approximated propagation path state information by approximating, with a predetermined value, a propagation path state estimated by a CSR propagation path estimation unit. - 特許庁

光学的放射の偏光の状態に対する光学系の影響を近似する方法例文帳に追加

METHOD FOR APPROXIMATING INFLUENCE OF OPTICAL SYSTEM WITH RESPECT TO STATE OF POLARIZATION OF OPTICAL RADIATION - 特許庁

初期値算出部１１は、平面上に撮像対象が配置されている状態を、球形等の近似似撮像対象が配置されている状態であると近似し、初期カメラポーズを決定し、３次元座標を算出する。例文帳に追加

An initial value calculation section 11 approximates a state in which an imaging object is placed on a plane surface as a state in which a spherical approximation imaging object or the like is placed, determines an initial camera pose and calculates three-dimensional coordinates. - 特許庁

状態２では角度分解能を例えば４°、傾き検出範囲を状態１で得た近似直線の傾きを中心にして中（例えば８０°）にして近似直線を検出する。例文帳に追加

In the status 2, the approximate line is detected with the angular resolution of 4 degrees, for instance, and a medium range of inclination detection (80 degrees, for instance) centered around the inclination of the approximate line obtained in the status 1. - 特許庁

状態３では、角度分解能を例えば２°、傾き検出範囲を状態２で得た近似直線の傾きを中心して小（例えば４０°）にして近似直線を検出する。例文帳に追加

In the status 3, the approximate line is detected with the angular resolution of 2 degrees, for instance, and a narrow range of inclination detection (40 degrees, for instance) centered around the inclination of the approximate line obtained in the status 2. - 特許庁

バー状またはウエハ状態で、実使用状態に近似させた条件で、電磁変換特性を測定する測定方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring method and instrument for measuring the electromagnetic conversion characteristic in the condition approximated to the actual use state with the bar-shaped or the wafer-like state. - 特許庁