短絡防止テストの英語

テスト用のボンディングによるワイヤ残りが生じにくいため、次のボンディングの際のパッド間の短絡を防止することができる。例文帳に追加

As the wire remainder due to bonding for test is hardly generated, a short-circuit between pads at the time of the following bonding can be prevented from being generated. - 特許庁

テストターミナルにおいて、保護リレーの動作点検時に両端子部材間を非導通にするために短絡片を係止部間に保持した後で、短絡片を導電係止部間に戻す操作を失念することを防止して、遮断器不作動による事故の拡大を防止する。例文帳に追加

To prevent an accident from expanding owing to a failure in operation of a breaker by preventing an operation to return a short-circuit piece to between conductive lock portions from being forgotten after the short-circuit piece is held between the lock portions so as to electrically insulate both terminal members from each other during inspection of an operation of a protection relay with respect to a test terminal. - 特許庁

これにより、上記給電配線１０が互いに電気的に接触することを防止して該給電配線１０の短絡が防止され、適正なウェハ・バーンインテストを行うことができる。例文帳に追加

Thereby the power supply wiring 10 is prevented from mutually electrically contacting to prevent a short circuit of the power supply wiring 10, and a proper wafer burn-in test can be performed. - 特許庁

線状導体が露出しているテストポイントを被覆保護して短絡などのトラブルを防止でき、導通確認テストの際にはテストポイントの被覆を簡単に解除してテストを実施できるフレキシブルフラットケーブルを提供する。例文帳に追加

To provide a flexible flat cable capable of preventing troubles such as short-circuit by coating and protecting a test point where a linear conductor is exposed, and able to be tested by easily removing the coating of the test point when performing a continuity confirmation test. - 特許庁

一個でＣＴ用及びＰＴ用に共用し得、さらに共用した場合でも間違った短絡片の取り付けを未然に防止し得るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグを提供する。例文帳に追加

To provide a CT/PT common test plug that is shared for CT and PT, and prevents incorrect attachment of a short circuit piece even when it is shared. - 特許庁

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced. - 特許庁