管理元素の英語

蛍光Ｘ線分析装置による半導体封止樹脂中の有害元素管理方法において、誤差の少ない測定方法を用いて管理を行なう。例文帳に追加

To manage hazardous elements through the use of a measuring method having only few errors in a method for managing hazardous elements in semiconductor sealing resins by a fluorescent X-ray analysis apparatus. - 特許庁

ＭＯＸ燃料の供給当事国が複数存在するときに、燃料集合体中のアクチニド元素に属する重元素核種量を供給当事国別に計量管理することが容易な燃料集合体核種量算出装置およびその算出方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a fuel assembly nuclide calculation device and its calculation method which makes easy measuring and administering heavy element nuclide quantity belonging to actinide element in a fuel assembly for every supplying country when there are a plurality of supplying country of mixed oxide(MOX) fuel. - 特許庁

容易にしかも正確にアルミ箔表面に存在する微量金属元素を定量することができ、これによってアルミ箔の製造工程における工程管理で採用できるグロー放電発光分析によるアルミ箔表面の微量元素分析法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for the quantitative analysis of a very small amount of an element in the surface of an aluminum foil by glow discharge emission analysis, capable of performing the quantitative analysis of a very small amount of a metal element present in the surface of the aluminum foil easily and accurately, and capable of being employed in process control in an aluminum foil manufacturing process. - 特許庁

放射性同位元素の管理義務を負わず、セメント原料精粉中の目標成分を連続的に分析可能なセメント原料の連続分析装置およびその分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a continuous analyzer for a cement raw material capable of continuously analyzing the target component in the fine powder of a cement raw material without bearing the control responsibility of a radioactive isotope, and a method for continuously analyzing the cement raw material. - 特許庁

培養組織の元素組成分析方法、移植適性判定方法及び品質管理方法並びに、移植適性を有する培養組織の製造方法及び移植適性を有する培養組織例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING ELEMENT COMPOSITION OF CULTURED TISSUE, METHOD OF DETERMING IMPLANTATION SUITABILITY AND METHOD OF CONTROLLING QUALITY, METHOD OF MANUFACTURING CULTURED TISSUE HAVING IMPLANTATION SUITABILITY AND CULTURED TISSUE HAVING IMPLANTATION SUITABILITY. - 特許庁

製造されたコネクタハウジング１０の表面に、製造管理情報に応じて一種又は複数種の情報提示物質（希土類元素の酸化物粉末が好ましい）を含んだ情報付与インクを付着させてマークを付する。例文帳に追加

A mark is attached to a surface of a manufactured connector housing 10 by attaching information imparting ink containing one or more kinds of information presentation substances (oxide powder of a rare-earth element is preferable) depending on manufacturing management information. - 特許庁

電子部品材料から採取した試料に対し、質量分析装置を用いて特定金属元素の同位体存在比の検出を行う分析方法を用いて電子部品材料の品質管理を行う。例文帳に追加

Quality control of the electronic component material is performed by using an analytical method for detecting an isotope abundance ratio of a specific metal element by using a mass spectrometer relative to a sample collected from the electronic component material. - 特許庁

半導体デバイスの清浄度管理で要求される１０^7〜１０^8atoms/cm^2レベルの金属不純物を、多元素同時に精度良く分析する分析法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of analyzing metallic impurities in a level of 107 to 108 atoms/cm2 which is requested for regulating the cleanness of a semiconductor device, in a test of a semiconductor substrate with good accuracy simultaneously with the analysis of multi-elements. - 特許庁