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粉末回折の英語
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英訳・英語 powder diffraction
「粉末回折」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 165件
粉末Ｘ線回折測定法例文帳に追加
X-Ray Powder Diffraction Method - 厚生労働省
Ｘ線粉末回折パターンスクリーニング法例文帳に追加
Ｘ線検出装置及び粉末Ｘ線回折測定方法例文帳に追加
X-RAY DETECTOR AND POWDER X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD - 特許庁
化合物Ａの結晶であって、粉末Ｘ線回折で測定した回折角２θ（°）の特徴的回折ピークが特定の粉末Ｘ線回折パターンを有する結晶。例文帳に追加
The crystal of compound A is one in which the characteristic diffraction peak at a diffraction angle 2θ(°) as measured by powder X-ray diffraction has a specified powder X-ray pattern. - 特許庁
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．２、１２．７、１８．４及び２２．３度に強い回折ピークを示す結晶多形。例文帳に追加
This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.2, 12.7, 18.4 and 22.3°. - 特許庁
本発明の正極活物質は、アルカリ金属イオンを挿入・脱離可能なＦｅＦ_３粉末からなる正極活物質であって、ＦｅＦ_３粉末は、Ｘ線回折による（０１２）面の回折ピークの半値幅が０．２ｒａｄ以上である微粉末である。例文帳に追加
The FeF_3 powder is impalpable powder of half-width of 0.2 rad or more of diffraction peak in (012) plane by X-ray diffraction. - 特許庁
つまり、このＳｉ合金粉末について粉末Ｘ線回折測定を行うと、回折角度２θが４２°以上４４°以下の範囲内に回折ピークが得られることが好ましい。例文帳に追加
That is to say, it is preferable if a diffraction peak can be obtained at diffraction angles 2θ within the range of 42° or more and 44° or less when the Si alloy powder is put under a powder X-ray diffraction measurement. - 特許庁
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「粉末回折」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 165件
このケイ素合金粉末について粉末Ｘ線回折分析を行うと、銅・アルミニウム含有相１２に帰属する回折角度２θが４３．５°〜４４．５°の範囲内に高強度の回折ピークが得られる。例文帳に追加
When a powder X-ray diffraction analysis regarding the silicon alloy powder is executed, a high-intensity peak can be provided in a range, belonging to the copper/aluminum-containing phase 12, where a diffraction angle 2θ is 43.5-44.5°. - 特許庁
この新たな結晶形の各々は特異な粉末X線回折パターンにより識別する。例文帳に追加
Each of the new forms is differentiated by a unique powder X-ray diffraction pattern. - 特許庁
アレンドロネートナトリウムＢ型の粉末Ｘ線回折スペクトルを示す。例文帳に追加
The powder X-ray diffraction spectrum of the sodium alendronate type B is shown. - 特許庁
その粉末Ｘ線回折図表により特徴付けられる、式（Ｉ）：で示される化合物の結晶形態IV。例文帳に追加
The crystalline form IV of a compound of formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram. - 特許庁
その粉末Ｘ線回折パターンを特徴とする、式（Ｉ）の化合物のα結晶型。例文帳に追加
The α-crystal form of the compound represented by formula (I) shows a characteristic powder X-ray diffraction pattern. - 特許庁
１次元または２次元検出器を用いた粉末Ｘ線回折データ測定方法例文帳に追加
POWDER X-RAY DIFFRACTION DATA MEASURING METHOD USING ONE-DIMENSIONAL OR TWO-DIMENSIONAL DETECTOR - 特許庁
粉末にしてＸ線回折を行ってもピークの順番が変わらないことが好ましい。例文帳に追加
The peak order is preferably unchanged even when the X-ray diffraction is performed for the powder thereof. - 特許庁
粉末Ｘ線回折において、実質的に上記欠陥ペロブスカイト型複合酸化物の回折パターンのみが検出される。例文帳に追加
Substantially, only a diffraction pattern of the defective perovskite type composite oxide is detected in power X-ray diffraction. - 特許庁
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