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粗表面散乱の英語

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英訳・英語 rough surface scattering


JST科学技術用語日英対訳辞書での「粗表面散乱」の英訳

粗表面散乱


「粗表面散乱」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

表面を有する光散乱粒子を含むブロッキング層例文帳に追加

BLOCKING LAYER CONTAINING LIGHT-SCATTERING PARTICLE HAVING ROUGH SURFACE - 特許庁

そこで、その表面さを大きくして、入射光を散乱させることで反射率を低減する。例文帳に追加

Then, reflectivity can be reduced by increasing the surface roughness and causing the incident lights to be scattered. - 特許庁

反射板114の表面は、その照明光が散乱されるよう、所定の表面さRaを与えられている。例文帳に追加

The surface of the reflection plate 114 has a prescribed roughness Ra so that the illumination light is scattered. - 特許庁

所定の波長の光を透過する基板30の表面には、入射する光を透過させる微小光透過領域31と、基板30の表面さを大きくして光を散乱させる散乱領域32とが形成されている。例文帳に追加

A microscopic light transmission area 31 transmitting incident light and a scattering area 32 scattering light by increasing the roughness of the surface of a substrate 30 are formed on the surface of the substrate 30 adapted to transmit light with a specified wavelength. - 特許庁

感光ドラム1の表面に微小なグレージング角θでレーザ光Lbを照射し、その散乱光Lb2を、傷による散乱光領域S3に配備された受光部材SA,SB,SCと、汚れ(表面さ)による散乱光領域S2に配備された受光部材SAUとで受光する。例文帳に追加

The surface of a photosensitive drum 1 is irradiated with a laser beam Lb at a minute glazing angle θ and the scattered beam Lb2 thereof is detected by the light detecting members SA, SB and SC arranged on a scattered light region S3 due to a flaw and the light detecting member SAU arranged on a scattered light region S2 due to a stain (surface roughness). - 特許庁

数μm〜数百μm程度の表面さを有する表面さを、超音波散乱を利用してインプロセスで評価可能な表面さ評価方法および評価装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a method of evaluating surface roughness and its evaluation device capable of performing in-process evaluation of surface roughness having surface roughness of the order of a few μm to a few hundreds of μm by using ultrasonic scattering. - 特許庁

例文

ロ 光の散乱を角度の関数として処理することにより表面さを測定するものであって、〇・五ナノメートル以下の感度を有するもの例文帳に追加

(b) Measuring devices that measure surface roughness by treating the angles of the scattering of light as functions and that have a sensitivity of 0.5 nanometers or less発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム

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「粗表面散乱」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

研磨パッド10に設けた開口18に、入射光の10%以上を散乱させる表面さを有する下面34を持つ窓30を固定し、この下面34と接して散乱防止層50を形成する。例文帳に追加

A window 30 having a bottom 34 having a surface roughness for scattering at least 10% of incident light is fixed to an opening 18 arranged in a polishing pad 10, and thus a scattering-preventing-layer 50 is formed in contact with the bottom 34. - 特許庁

樹脂13と該樹脂中に平均粒径が0.5μm以上3μm以下である粒子12を分散させた光散乱膜9であって、光散乱膜を形成した後の膜表面のRa(中心線平均さ)が50nm以下であること。例文帳に追加

The center line average height Ra of the film surface after forming the light scattering film is 50nm or less. - 特許庁

試料表面の面さや正常な回路パターンからの散乱光の影響を抑制し、かつ、欠陥や異物からの散乱光の利得を高くして、高感度に試料表面の欠陥等を検出することが可能な欠陥検査装置を実現する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device capable of suppressing the influence of scattered light from the roughness of a sample surface and a normal circuit pattern, and detecting a flaw or the like of the sample surface at high sensitivity by increasing the gain of the scattered light from the flaw or a foreign substance. - 特許庁

このとき下地膜部分のさ(界面さ)はおよそ0.5nm(RMS)以下であり多層反射膜3の表面さが反映されて散乱損失の原因となることはない。例文帳に追加

At this time, the roughness (interface roughness) of the base film is about 0.5 nm (RMS) or less so that the scattering loss may be not derived from reflecting the roughness on the surface of the multilayer reflection film 3. - 特許庁

ウエハ表面さや酸化膜下の面さ、回路パターンからの散乱光を低減して、欠陥散乱光を多く検出するために斜方検出系の仰角を下げると仰角α2<α1となるがレンズの外径10bはレンズ外径10aより小となり散乱光の集光能力が低下する。例文帳に追加

When the elevation angle of a rhombic detection system is reduced in order to detect much flaw scattered light by reducing the scattered light from wafer surface roughness, surface roughness under an oxide film, and the circuit pattern, the elevation angle α2 becomes lower than α1, but the outer diameter 10b of the lens becomes shorter than the lens outer diameter 10a and the condensing capacity of the scattered light decreases. - 特許庁

感光ドラム1の表面に微小なグレージング角θでレーザ光Lbを照射し、その散乱光成分Lb2を、傷による散乱光領域S3に配備された受光部材SA,SB,SCと、汚れ(表面さ)による散乱光領域S2に配備された受光部材SAUとで受光する。例文帳に追加

The surface of a photosensitive drum 1 is irradiated with a laser beam Lb at a minute glazing angle θ and the scattered beam component Lb2 thereof is detected by the light detecting members SA, SB and SC arranged on a scattered beam region S3 due to a flaw and the light detecting member SAU arranged on a scattered beam region S2 due to a stain (surface roughness). - 特許庁

被検査表面く、内部の結晶粒が大で、かつ音波の散乱減衰が大きい、超音波探傷が比較的困難な被検体に対して好適な、バースト波を用いた超音波探傷方法を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrasonic flaw detection method using a burst wave, suitable for an object to be inspected relatively difficult to ultrasonically detect a flaw because the surface to be inspected is rough and internal crystal particles are coarse and the scattering attenuation of a sonic wave is large. - 特許庁

例文

これは、視野近接表面表面度を事前適応させるか又は変更することにより、及び/又は特別にターゲットを定めた光散乱特性を有する光学要素を瞳平面に設置することにより有利に達成される。例文帳に追加

This can be achieved advantageously by adapting in advance or changing surface roughness of a surface in the vicinity of the visual field, and/or by providing a specially targeted optical element having a light scattering characteristic on a pupil plane. - 特許庁

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「粗表面散乱」の英訳に関連した単語・英語表現

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