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線状欠陥の英語
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英訳・英語 line defect
「線状欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 240件
前記直線状欠陥は、転位とは異なる欠陥である。例文帳に追加
The linear defect is different from dislocation. - 特許庁
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects. - 特許庁
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect. - 特許庁
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加
Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect. - 特許庁
絶縁欠陥位置を高精度に標定可能な線状導体の絶縁欠陥位置標定装置を得る。例文帳に追加
To provide an insulation defect position locating device of a linear conductor capable of locating highly accurately an insulation defect position. - 特許庁
点欠陥、線状欠陥の発生を抑制できる光学シート製造用金型等を提供すること。例文帳に追加
To provide a mold for manufacturing an optical sheet capable of suppressing the generation of a spot flaw and a linear flaw. - 特許庁
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「線状欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 240件
また、前記直線状欠陥は、結晶内部に存在し、かつ結晶表面には存在しない欠陥である。例文帳に追加
The linear defect exists in the crystal and does not exist on the surface of the crystal. - 特許庁
放射線画像を用いた欠陥検査において、被検査部位の形状と欠陥を自動的に区別することのできる欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide a defect inspection method for automatically discriminating between the shape of an inspected part and a defect as to defect inspection using a radiation image. - 特許庁
検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加
To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy. - 特許庁
線状部材の内部欠陥を精度良く検出すること。例文帳に追加
To detect an internal failure of a linear member with good accuracy. - 特許庁
次に、線状,円弧状欠陥の特徴量である,欠陥幅,長さ等のパラメータにより欠陥判定処理(4015)を行い、線状,孤立欠陥候補を抽出する。例文帳に追加
Next, flaw determining processing (4015) is performed by a parameter such as flaw width, length or the like being the feature quantity of the linear and circular arc-like flaws to extract a linear and insular flaw candidate. - 特許庁
フラットパネルX線検出器では線状につながった線欠陥が生じる場合があり、さらにその線欠陥に隣接するラインに一目では欠陥とわかりづらい不確かな欠陥ラインが存在する場合がある。例文帳に追加
In the flat-panel X-ray detector, a line defect connected in a line may be generated and further, an uncertain defective line that cannot be determined to be a defect at a glance may be present at times, in a line adjacent to the line defect. - 特許庁
直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。例文帳に追加
To provide a method, apparatus and program for defect detection, capable of accurately detecting defects in the contour shape of an workpiece having an outer circumferential contour, based on a straight line. - 特許庁
なお、凸形状の線状形状欠陥の高さは10nm以下である。例文帳に追加
In addition, the heights of the projecting linear defects are ≤10 nm. - 特許庁
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