背圧試験の英語

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side. - 特許庁

循環冷却装置が稼動状態でも、カプラ内部に背圧が加わった状態とならず、ヒートシンクのカプラ着脱時に冷却流体の飛散を発生させる恐れのない半導体試験装置を実現する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus being in no risk of causing any cooling fluid to splash when attaching/detaching a coupler of a heat sink, by preventing such the condition that a backing pressure is applied to the inside of the coupler, even in the case that a circulation cooling apparatus is in its working state. - 特許庁