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荷電体の英語
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英訳・英語 charged object
「荷電体」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 723件
荷電粒子源構造体例文帳に追加
CHARGED PARTICLE SOURCE STRUCTURAL BODY - 特許庁
噴射液体荷電装置の荷電板及びその製造方法例文帳に追加
CHARGE PLATE FOR JET LIQUID CHARGING APPARATUS AND ITS PRODUCTION - 特許庁
荷電制御強磁性半導体例文帳に追加
CHARGE-CONTROL FERROMAGNETIC SEMICONDUCTOR - 特許庁
荷電流動体材料、荷電流動体材料の製造方法及び磁気流体発電装置例文帳に追加
CHARGED FLOWING BODY MATERIAL, ITS MANUFACTURING METHOD AND MAGNETIC FLUID POWER-GENERATING APPARATUS - 特許庁
半導体装置の荷電中心位置の評価方法、半導体装置の荷電中心位置の評価装置、及び半導体装置の荷電中心位置の評価プログラム例文帳に追加
METHOD OF EVALUATING CHARGE CENTER POSITION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, EVALUATION APPARATUS AND PROGRAM THEREFOR - 特許庁
下記化合物を有効成分とする荷電制御剤、その荷電制御剤を用いる樹脂粉体の荷電制御方法、トナー。例文帳に追加
This charge control agent takes a compound expressed by a general formula (I) as an effective component, and a charge control method for resin powder and a toner using the charge control agent are provided. - 特許庁
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「荷電体」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 723件
荷電ビーム露光装置、荷電ビーム露光方法、および半導体装置の製造方法例文帳に追加
CHARGED BEAM EXPOSURE APPARATUS, CHARGED BEAM EXPOSURE METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電粒子線露光方法、荷電粒子線露光装置、レチクル及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE, RETICLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電ビーム露光装置、荷電ビーム露光方法、マスク製造方法および半導体装置の製造方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE MASK MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD - 特許庁
荷電粒子線装置のビーム調整装置、荷電粒子線装置及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
BEAM ADJUSTMENT DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電粒子線露光方法、荷電粒子線露光装置及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
METHOD AND EQUIPMENT FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD - 特許庁
荷電粒子線露光装置用ステージ、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND STAGE THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビーム露光方法、荷電粒子ビーム露光装置及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM ALIGNMENT AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電粒子線照射系、荷電粒子線露光装置及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATING SYSTEM, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
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