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荷電分布の英語
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英訳・英語 charge distribution
「荷電分布」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 87件
荷電粒子線の線量分布測定装置例文帳に追加
DOSE DISTRIBUTION MEASURING APPARATUS FOR CHARGED PARTICLE BEAM - 特許庁
塗料粒子の荷電量分布計測方法例文帳に追加
CHARGE DISTRIBUTION MEASURING METHOD FOR COATING PARTICLES - 特許庁
荷電粒子ビームのビーム強度分布測定方法及び荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
BEAM INTENSITY DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビームの分布測定方法およびそれに関連する方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING DISTRIBUTION OF CHARGED PARTICLE BEAM AND METHOD RELATIVE THERETO - 特許庁
電荷分布の解析方法、電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置例文帳に追加
ANALYZING METHOD OF CHARGE DISTRIBUTION, ANALYZING METHOD OF ELECTROMAGNETIC FIELD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM, DESIGNING METHOD FOR IT, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子線または電磁波が照射された物質における電荷分布またはポテンシャル分布を解析するに当たり、モンテカルロ法と荷電粒子の拡散方程式を解く方法とを組み合わせて荷電粒子の運動を追跡する。例文帳に追加
When analyzing charge distribution or potential distribution of a material to which charged particle beam or electromagnetic wave is projected, movement of charged particles is tracked by combining a Monte Carlo method and a method for resolving a diffusion equation of charged particles. - 特許庁
荷電ビーム露光の吸収エネルギー分布の計算方法、シミュレータ、荷電ビーム露光方法、半導体装置及びマスクの製造方法、荷電ビーム露光の吸収エネルギー分布を計算するプログラムを記録した記録媒体例文帳に追加
METHOD OF COMPUTING ABSORBED-ENERGY DISTRIBUTION OF CHARGED-BEAM EXPOSURE, SIMULATOR, CHARGED-BEAM EXPOSURE METHOD, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND MASK AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM FOR COMPUTATION OF ABSORBED- ENERGY DISTRIBUTION OF CHARGED-BEAM EXPOSURE - 特許庁
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「荷電分布」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 87件
加速器システムのなかで荷電粒子ビームの空間分布分布測定装置で計測可能な荷電粒子ビーム電流の上限を向上させることができる荷電粒子ビーム計測装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide a charged particle beam measuring device capable of improving the upper limit of charged particle beam current measurable of space distribution of the charged particle beam in an accelerator system with a distribution measuring device. - 特許庁
比較的簡易な構成により、選別対象である粒子に荷電を要さず、しかも質量分布(サイズ分布)の狭い確実な粒子選別を可能とする。例文帳に追加
To surely sort particles with a narrow mass distribution (size distribution) by a relatively simple constitution without charging the sorting object particles. - 特許庁
本発明の荷電粒子ビーム計測装置は、荷電粒子ビーム軸上に配置され、ビーム強度の空間分布をビーム照射部11の体積変化を通じて電気的な信号強度分布に変換するビーム強度分布変換部1と、電気信号強度分布計測部2からなる。例文帳に追加
A charged particle beam measuring device is arranged on a charged particle beam axis and constituted of a beam intensity distribution converter 1 for converting the space distribution of beam intensity to electric signal intensity distribution through the volume change of a beam irradiator 11 and an electric signal intensity distribution measuring part 2. - 特許庁
荷電粒子の強度分布測定方法および装置、並びに半導体製造装置例文帳に追加
INTENSITY DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD AND DEVICE FOR CHARGED PARTICLES, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS - 特許庁
荷電粒子線または電磁波が照射された物質における電荷分布およびポテンシャル分布を正確に解析できる電荷分布の解析方法、および、ポテンシャル分布の解析方法、それらを用いた電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置を提供すること。例文帳に追加
To provide an analyzing method of charge distribution as well as analyzing method of potential distribution which accurately analyzes charge distribution and potential distribution at a material to which charged particle beam or electromagnetic wave is projected, and analyzing method of electromagnetic field, charged particle optical system, designing method for it, and charged particle beam device. - 特許庁
荷電粒子線の線量分布における辺縁部のむらや低下を簡易に抑制することができる荷電粒子線照射装置を提供する。例文帳に追加
To provide charged-particle beam irradiation equipment which can easily suppress unevenness and deterioration in marginal sections in dose distributions of a charged-particle beam. - 特許庁
荷電粒子ビームのビーム強度分布測定方法及び荷電粒子ビームのビーム分解能測定方法例文帳に追加
BEAM INTENSITY DISTRIBUTION MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND BEAM RESOLUTION CAPACITY MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM - 特許庁
描画中の電流密度分布の自動調整が可能な荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法を提供する。例文帳に追加
To provide a charged particle beam drawing device and a charged particle beam drawing method which can automatically adjust the current density distribution during drawing. - 特許庁
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