製品使用テストの英語

製品時では、ノイズを低減することができ、且つ、プローブテスト時では、プローブ針の使用を削減すること。例文帳に追加

To reduce noise in the state of a product, and to reduce use of probe needles in a probe test. - 特許庁

ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product. - 特許庁

パーソナルコンピュータなどを利用して、より実使用状態に近い条件にて測定対象製品を試験することができ、また測定対象製品を安価に高精度で選別することができるメモリテストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a memory test system which can test a product to be measured with conditions being more similar to an actual use state using a personal computer and the like and which can select a product to be measured inexpensively and highly accurately. - 特許庁

サーバは、配備された製品に搭載されており以前から存在している制御装置の既存のＰＣテストポートに接続され、既存の機械に容易にレトロフィットを施してウェブ使用可能とする。例文帳に追加

The server may be connected to an existing PC test port of a controller pre-existing onboard the deployed product to easily retrofit existing machines to be web-enabled. - 特許庁

初期投資が小さく、かつ、メンテナンスフリーでありながら、製品出荷前の性能テスト時における品質確認の目安及び実使用状態での性能耐久性の判断を適確に行うことができるようにする。例文帳に追加

To properly confirm a quality standard and also to make an accurate appraisal on performance durability in an actual use in testing new products before shipment even with a small initial investment and maintenance-free condition. - 特許庁

移動ヘッドなどの被制御対象の共振モードの補償や制御系のループゲインの調整を、テスト用信号を新たに用いることなしに、また製品使用者側の利便性をそこなうことなしに実行することを目的とする。例文帳に追加

To carry out the compensation of a resonance mode of an object to be controlled such as a moving head and the adjustment of the loop gain of a control system without using a testing signal anew nor impairing convenience on the product user side. - 特許庁

ＣＴをテストする際や、ＰＣＢを製品ボード等に実装して実使用する際にのみＣＰＤ＿ＥＣ（ＥＣ）をＶＳＳに固定することで、それ以外の際にＣＰＤ＿ＶＣＣを介したＣＴへのサージの伝達を防止又は低減可能になる。例文帳に追加

Only when the CT is tested or when the PCB is mounted on a product board etc., to be actually used, the CPD_EC (EC) is fixed at the VSS to prevent or reduce transmission of a surge to the CT through the CPD_VCC at other times. - 特許庁

本願の一つの発明は、シリコン系再生テスト・ウエハ等の製造方法において、使用済みテスト・ウエハ（非製品ウエハ）の表面の構造層をウエット・エッチングにより、必要な程度、除去した後、凹凸を有するウエハの一つの主面に対して、浮遊砥粒、および水溶性ポリマを含有する研磨スラリを用いた化学機械研磨を実施する工程を含むものである。例文帳に追加

The method for manufacturing a silicon-based regeneration test wafer or the like includes a step of performing chemical mechanical polishing to one main surface of the wafer having irregularities by the use of a polishing slurry containing floating abrasive particles and a water-soluble polymer after removing a structural layer on a surface of a used test wafer (non-product wafer) to a necessary extent by wet etching. - 特許庁