規模キャンパスの英語

各ユニットに対して１つのスキャンパスレジスタを設置することにより回路規模を削減できる。例文帳に追加

One scan path register is installed for each unit so that circuit scale can be reduced. - 特許庁

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。例文帳に追加

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit. - 特許庁