計量学の英語

二以上の計量容器を用い、それらは受け容れラインを介してバルク化学物質源に接続される。例文帳に追加

Two or more measuring vessels are used and connected to the bulk chemical material sources while interposing receivable lines. - 特許庁

学習部１３が、学習データ記録部１１から読み出した学習データと、ベース音響モデルとから十分統計量を計算する。例文帳に追加

A learning section 13 calculates a sufficient amount of statistics from a learning data which is read from a learning data recording section 11, and a base sound model. - 特許庁

学習項目間の因果・依存関係計量による学習者個人の学習状況適合カリキュラム生成方式例文帳に追加

LEARNING STATUS ADAPTATION CURRICULUM CREATING SYSTEM OF STUDENT INDIVIDUAL BY CAUSAL DEPENDENCY RELATION GAUGING BETWEEN LEARNING ITEMS - 特許庁

ベース音響モデルおよび、複数の学習データクラスタを用いて、各学習データクラスタに対応した十分統計量（クラスタ十分統計量）を得る。例文帳に追加

Sufficient statistics (cluster sufficient statistics) corresponding to a plurality of learning data clusters are obtained by using a base acoustic model and the respective learning data clusters. - 特許庁

学習用の全ての顔画像に対してこれらの処理が行われると、誤差統計量算出部１６０は、全ての顔画像から検出した各特徴点の検出座標と正解座標とから検出誤差を表す誤差統計量を算出し、誤差統計量データベース１７０に格納する。例文帳に追加

When this processing is performed to all the face images for learning, an error statistical amount computing part 160 computes an error statistical amount indicating a detection error from the detected coordinates of each feature point detected from all the face images, and the correct answer coordinates, and stores it in an error statistical amount database 170. - 特許庁

強化学習部２４が、上記強化学習データと上記ベース音響モデルから強化十分統計量を計算する。例文帳に追加

An enhancement learning section 24 calculates an enhancement sufficient amount of statistics from the enhancement learning data and the base sound model. - 特許庁

ラベル伝播手段２２は、計量学習手段２１が学習した類似度を用いて、ラベル付きデータからラベルなしデータにラベルを伝播させる。例文帳に追加

A label propagation means 22 performs label propagation from labeled data to unlabeled data by using the similarity learnt by the measurement learning means 21. - 特許庁

計量学習手段２１は、データ記憶部３１からデータを取得し、データの特徴量に基づいて、データ間の類似度を学習する。例文帳に追加

A measurement learning means 21 acquires data from a data storage part 31, and learns inter-data similarity on the basis of the featured value of data. - 特許庁