| 意味 | 例文 (408件) |
試験基準の英語
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英訳・英語 test standard
「試験基準」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 408件
試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム例文帳に追加
TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM - 特許庁
「good clinical practice(臨床試験実施基準)」とも呼ばれる。例文帳に追加
暗号モジュール評価基準及び試験基準を作成する。例文帳に追加
CRYPTREC will create evaluation criteria and test criteria for cryptographic modules.発音を聞く - 経済産業省
基準試験力相当の基準分銅によりロードセル18に試験力を負荷する。例文帳に追加
The testing force is applied to the load cell 18 by a reference weight corresponding to the reference testing force. - 特許庁
放射線透過試験用基準ゲージの表示マーカ例文帳に追加
DISPLAY MARKER FOR REFERENCE GAGE FOR RADIOGRAPHIC TEST - 特許庁
技術基準適合試験サーバ、ソフトウェア無線機、およびソフトウェア無線機の技術基準適合試験の方法例文帳に追加
TEST SERVER FOR TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE, SOFTWARE RADIO DEVICE, AND TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE TEST METHOD OF THE SOFTWARE RADIO DEVICE - 特許庁
3残留基準等告示に規定する試験法関係例文帳に追加
3 Analytical Methods Stipulated in Notification No. 499 - 厚生労働省
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「試験基準」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 408件
打切り試験における打切り時間および試験中止基準見積もり方法・装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENDING TIME IN LIFE TEST AND TEST STOP REFERENCE - 特許庁
試験プログラム10に従って試験信号を作成して被試験端末2及び基準端末3に送信11する。例文帳に追加
A test signal is generated according to a test program 10 and transmitted 11 to a terminal 2 to be tested and a reference terminal 3. - 特許庁
半導体試験装置の基準電位設定装置及び方法例文帳に追加
REFERENCE POTENTIAL SETTING APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁
試験時において基準セルトランジスタT2rのゲート電圧が設定され、試験用基準メモリセル3に流れる基準電流が調節される。例文帳に追加
When testing, a gate voltage of the reference cell transistor T2r is set, and a reference current made to flow through the reference memory cell 3 for testing is adjusted. - 特許庁
【判定基準 1b】次の条件をすべて満たしている動物試験例文帳に追加
Decision Criteria 1b: Animal tests that satisfy the following conditions: - 経済産業省
【判定基準 2b】次の条件をすべて満たしている動物試験例文帳に追加
Decision Criteria 2b: Animal tests that satisfy the following conditions: - 経済産業省
代表ライン・モジュール44は試験ビデオ・フレーム及び基準ビデオ・フレームを受け、代表試験ライン及び代表基準ラインを生成する。例文帳に追加
A representative line module 44 receives the test video frame and the reference video frame and generates a representative test line and a representative reference line. - 特許庁
雷インパルス耐電圧試験システムおよび基準波形算出プログラム、並びに雷インパルス耐電圧試験方法例文帳に追加
THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST SYSTEM, REFERENCE WAVEFORM CALCULATION PROGRAM, AND THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD - 特許庁
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