輝度むら検査の英語

プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらについての適切な評価、検査を可能とする。例文帳に追加

To make an appropriate evaluation and inspection on the variation of a discharge cell unit which occurs in a plasma display panel. - 特許庁

ＣＲＴパネルの蛍光面の周辺での輝度の低下を補正し、蛍光面全域にわたって精度良く、ムラ状の欠陥を検査する。例文帳に追加

To accurately inspect an irregular defect throughout the whole area of a fluorescent screen by correcting degradation of luminance in the periphery of the fluorescent screen of a CRT panel. - 特許庁

人間の感性を考慮した良品判定を行うことができ、さらに、検査精度を落とすことなく空間周波スペクトルに変換する際のデータ量を少なくすることができる輝度むら検査装置等を提供する。例文帳に追加

To provide an uneven luminance inspecting instrument which enables judging of quality articles considering human sensitivity and moreover, reducing of the volume of data in the conversion to a spatial frequency spectrum without degrading inspection accuracy. - 特許庁

輝度ムラ欠陥の限度サンプルの収集が容易であり、特定形状の欠陥等を画像検査前に除去することが可能な画像検査装置を実現する。例文帳に追加

To provide an image inspection device that easily collects limit samples of luminance non-uniformity defects and can remove defects or the like of specific shape before image inspection. - 特許庁

イメージインテンシファイアおよび／またはＣＣＤカメラの幾何学的歪に起因する輝度ムラを確実に取り除くことができ、ひいては被検査物のＸ線画像の画質を向上させることのできるＸ線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray inspection device capable of certainly removing luminance nonuniformity due to geometric distortion of an image intensifier and/or a CCD camera, and thus capable of improving the quality of an X-ray image of an inspection object. - 特許庁

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。例文帳に追加

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200). - 特許庁

プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらを、コンタクト不良により生じる断線と区別して、適切な評価、検査を可能とする。例文帳に追加

To enable to appropriately evaluate and inspect the luminance unevenness of discharge cell unit occurring in a plasma display panel by distinguishing it from disconnection due to contact failure. - 特許庁

画面欠陥の自動検出において、照度ムラを誤検出することなく、検出しようとする検査対象に固有の輝度ムラを確実に検出可能にする。例文帳に追加

To securely detect luminance unevenness characteristic of an object of inspection to be detected in automatic detection of a picture defect without erroneously detecting illumination unevenness. - 特許庁