追加解析の英語

解析部は、分解部、切り出し部、抽出部、生成部、追跡部、追加部を備える。例文帳に追加

The analysis part includes: a decomposition part, segmentation part, extraction part, generation part, tracking part, and addition part. - 特許庁

そして、データフロー解析装置は、抽出された検出箇所に基づいて、追加規則候補を生成する。例文帳に追加

The data flow analysis apparatus generates additional rule candidates on the basis of the extracted detected points. - 特許庁

映像データ解析部１０７とエラー表示追加部を設け、エラー表示追加部１１０が、映像データ解析部１０７でエラーを検出した映像フレームのデータに対して、エラーが含まれていることを示すエラー表示を追加する。例文帳に追加

A video data analyzing part 107 and an error display addition part are provided, the error display addition part 110 adds error display showing that errors are included to data of a video frame in which errors are detected by the video data analyzing part 107. - 特許庁

解析する境界条件が変わって参照箇所が変わっても、粗密メッシュの追加箇所の変更を容易に行うことができ、精度良く新規の解析メッシュデータ作成し得る解析データ作成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for creating analysis data that can easily change a part where an irregular mesh is added, and create new analysis mesh data with accuracy even if a reference part changes as boundary conditions for analysis change. - 特許庁

その部品外周部にフランジまたは移動抵抗４を追加したプレス解析ソースファイル１２を作成し、インバース解析法によりプレス解析を行う。例文帳に追加

A press analysis source file 12 wherein a flange or a moving resistance 4 is added to the component peripheral part is created, and press analysis is performed by an inverse analysis method. - 特許庁

従来は解析できなかった種類の画像診断装置の検査データの解析を可能にする解析エンジンの追加のイベントをトリガーとして，ＰＡＣＳに蓄積されている該当する画像診断装置の検査データを探索，取得，解析することを可能にした。例文帳に追加

A search, acquisition, and an analysis of the relevant examination data for the image diagnostic apparatus which is accumulated in the PACS are achieved by using the event of the addition of the analysis engine for enabling the analysis of the kind of the examination data of the image diagnostic apparatus which is not analyzed before, as the trigger. - 特許庁

半導体メモリ試験装置に、不良解析専用のＣＰＵ２、第１不良解析メモリ７と同じ構成をもつ第２不良解析メモリ８、２個のＣＰＵ１、２および２個の不良解析メモリ７、８を相互に切換える切換用マルチプレクサ５、６を新たに追加する。例文帳に追加

A semiconductor memory test device is newly added with a CPU 2, which is dedicated to conduct a defect analysis, a second defect analysis memory 8, which has a same constitution of a first defect analysis memory 7, and switching multiplexers 5 and 6 which mutually switch the two CPUs 1 and 2 and the two defect analysis memories 7 and 8. - 特許庁

故障解析装置は、故障部位が推定された場合に、通常の制御データとは異なる該故障部位の解析に必要な追加データの送出を、全ノードのうち所定の対象ノードに要求し、各ノードは、故障解析装置から追加データの送出が要求された場合に、その追加データを通信バスへ送出する。例文帳に追加

The failure analysis apparatus requests the transmission of the additional data necessary for the analysis of the failed part different from the normal control data to a predetermined object node out of the total nodes when the failed part is estimated, and each node transmits the additional data to the communication bus when the transmission of the additional data is requested from the failure analysis apparatus. - 特許庁