通り不良の英語

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。例文帳に追加

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer. - 特許庁

反り及びその他成形時の表面不良現象の発生を抑制し、幅広で比較的厚みのある段ボール状中空シートを、予定寸法通りに押出成形し得るプロピレン系重合体組成物を提供すること。例文帳に追加

To obtain a propylene based polymer composition for extrusion molding capable of extrusion molding while inhibiting the occurrence of surface failure such as warpage during the molding to give a predetermined size of a corrugated board-like hollow sheet with a broad width and comparatively bulky thickness. - 特許庁

レーザー溶接を行う場合は、溶接すべき両母材の突合部にギャップがあると該ギャップ部分をレーザービームが通り抜けてしまう（溶接不良となる）が、ギャップがある状態でもレーザービームが通り抜けないようにしたレーザー溶接方法を提供する。例文帳に追加

To provide a laser welding method that prevents a laser beam from going through a gap even in a state that the gap exists though the laser beam goes through a gap portion (which causes poor welding) if the gap exists in abutment parts of both base materials to be welded when performing laser welding. - 特許庁

例えば不良ノズルのノズル列のサブタンクがブラックのインク保持室４４ｄであれば、そのインク保持室４４ｄにイエローインクを割り当て、インク保持室４４ａにはブラック、インク保持室４４ｂには以前通りマゼンタ、インク保持室４４ｃには以前通りシアンを割り当てる。例文帳に追加

When the sub-tank of a nozzle array including a defective nozzle is a black ink holding chamber 44d, that ink holding chamber 44d is assigned with yellow ink, an ink holding chamber 44a is assigned with black ink and ink holding chambers 44b, 44c are assigned conventionally with magenta and cyan inks, respectively. - 特許庁

先端電極の刃先に相当する幅狭の電極露出部を目標とする切開対象位置に正確に臨ませて所望通りの部位を安全に切開することができ、また、シンプルな機構で作動不良の発生し難い内視鏡用高周波処置具を提供すること。例文帳に追加

To provide a high-frequency treatment instrument for endoscopes capable of safely incising an intended site by accurately directing an elongate electrode exposure portion equivalent to the cutting edge of a tip electrode to a targeting incision object position, having a simple mechanism and preventing easy occurrence of malfunction. - 特許庁

プリント基板上にはんだを用いて実装されたＢＧＡ（ボール・グリッド・アレイ）タイプの集積回路デバイスが、集積回路デバイスのはんだボールとプリント基板の金属箔との間で設計通りの電気的な接続をしていない接触不良箇所を推定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for estimating a contact defect position where electric connection between solder balls of an integrated circuit device and a metallic foil of a printed board is different from design in a ball grid array (BGA) type integrated circuit device mounted on the printed board by using solder. - 特許庁

そのため、１３００℃前後の高温燃焼ガスがバイパス配管１８を通り２次燃焼室へ移動するので、スラグタップ１２ｂやスラグ排出管１３はスラグが固化しない１２００℃以上に保たれ、スラグの固化によるスラグ排出不良が防止される。例文帳に追加

Thus, since a high temperature combustion gas of about 1,300°C moves to the secondary combustion chamber through the piping 18, the tap 12b and the tube 13 are held at 1,200°C or above at which the slag is not solidified to prevent an exhaust fault of the slag caused by the solidification of the slag. - 特許庁

レーザー溶接を行う場合は、溶接すべき両母材の突合部にギャップがあると、該ギャップをレーザービームが通り抜けてしまい（溶接不良となる）、両母材の突合部をギャップなしにするために両突合面を隙間なしに突合させるための加工（例えばＩ型継手加工）をするにはその加工が非常に面倒である。例文帳に追加

To solve a problem of highly troublesome machining for abutting both abutting faces free of a gap (e.g., I-joint machining) for the purpose of eliminating a gap from the abutted zone of both base materials, since a laser beam goes through the gap (causing welding defects) if a gap exists in the abutted zone of both base materials to be welded in performing laser welding. - 特許庁