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配光測定器の英語
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英訳・英語 goniophotometer
「配光測定器」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 114件
光学的測定システムには、励起光用光源7,測定光用光源8,光検出器9,制御・解析システム13などが配置されている。例文帳に追加
An optical measuring system is arranged with a light source 7 for exciting light, a light source for measuring light, a photodetector 9, a control analysis system 13. - 特許庁
赤外光の光源5と放射強度測定器6は、ITO膜1の表面で反射された光源5からの赤外光を放射強度測定器6で測定できるように配置する。例文帳に追加
A light source 5 of infrared light and a radiant intensity measuring apparatus 6 are arranged so as to be capable of measuring infrared light from the light source 5 reflected at the surface of an ITO film 1 by the radiant intensity measuring apparatus 6. - 特許庁
また三次元測定器20は横方向のレーザスリット光L1を縦方向に走査させることにより、測定空間3に配置される測定対象物を測定する。例文帳に追加
The three-dimensional measuring device 20 measures the object to be measured disposed in the measurement space 3 by scanning horizontal laser slit light in the vertical direction. - 特許庁
三次元測定器10は縦方向のレーザスリット光L1を横方向に走査させることにより、測定空間3に配置される測定対象物を測定する。例文帳に追加
The three-dimensional measuring device 10 measures the object to be measured disposed in a measurement space 3 by scanning vertical laser slit light in the cross direction. - 特許庁
容器1の内部に粒子表面の水分を測定する水分センサを配設し、水分センサによって粒子の吸光度(X値)を測定する。例文帳に追加
A moisture sensor measuring the surface moisture of particles is arranged in the container 1 and the absorbancy (X-value) of particles is measured by the moisture sensor. - 特許庁
原料液PLの屈折率または吸光度は、原料タンク24に配設された測定器34により測定される。例文帳に追加
The refractive index or the absorbance of the liquid PL is measured by a measuring unit 34 arranged in a stock tank 24. - 特許庁
光源1と、第一偏光板2と、測定対象であるTFD液晶表示パネル3と、光学異方体板4と、第二偏光板5と、分光測定器6の光検出器7を直線上に配置する。例文帳に追加
A light source 1, a first polarizing plate 2, a TFD liquid crystal display panel 3, an optical anisotropic plate 4, a second polarizing plate 5, and a photodetector 7 of a spectral measuring device 6 are arranged on a straight line. - 特許庁
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「配光測定器」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 114件
測定機構であって、少なくとも1つのサンプル容器の測定窓に整合した少なくとも1つの小角光放出装置と、測定窓の反対側に配置された検出器とを含む。例文帳に追加
A measurement mechanism includes at least one small angle light emission device matched with a measurement window of the sample vessel, and a detector disposed opposite to the measurement window. - 特許庁
光源1と、第一偏光板2と、測定対象であるTFD液晶表示パネル3と、第二偏光板5と、分光測定器6の光検出器7を直線上に配置する。例文帳に追加
A light source 1, a first polarizing plate 2, a TFD liquid crystal display panel 3, an optical anisotropic plate 4, a second polarizing plate 5, and a photodetector 7 of a spectral measuring device 6 are arranged on a straight line. - 特許庁
光源1から光をバンドパスフィルタ2を通して単一波長とした測定光が光検出器8に至る測定光路上に偏光子3と検光子6が配置されている。例文帳に追加
A polarizer 3 and an analyzer 6 are disposed on a measuring optical path, along which measuring light obtained by making light from a light source 1 be of a single wavelength via a band-pass filter 2 reaches a photodetector 8. - 特許庁
測定部4Cと乾燥室4Dの間に、投光器3Aと受光器3Bからなる検知器3を配置する。例文帳に追加
A detector 3 comprising a projector 3A and a light receiver 3B is disposed between a measurement part 4C and a drying chamber 4D. - 特許庁
分配反射ミラー27にて反射した蛍光Fは、蛍光伝送用光ファイバ17にて光学系ユニット13から蛍光測定器に伝送する。例文帳に追加
The fluorescence F reflected by the distribution reflecting mirror 27 is transmitted to a fluorescence measuring instrument from the optical unit 13 by a fluorescence transmitting optical fiber 17. - 特許庁
測定窓106の外側には、集光器112が配置され放電容器100内の光を光伝送路113に導入する。例文帳に追加
A condenser 112 is disposed outside the measuring window 106 and introduces light in the discharge vessel 100 into a light transmission path 113. - 特許庁
各測定面2,3に対応して、ケーシング内部空間に配置された送光器31と受光器32が設けられており、各測定面2,3は少なくとも1つの波長の光に対し透光性である開口部23,24を有している。例文帳に追加
A light transmitter 31 and a photoreceiver 32 arranged in a casing inner space are provided onto the respective measuring faces 2, 3, and the respective measuring faces 2, 3 have opening parts 23, 24 translucent to at last one wavelength of light. - 特許庁
光源の光が照射される場所の複数位置での照度を測定するために、前記場所の複数位置を各測定点としてそれぞれに照度検出器Cs0〜Cs25を予め配置し、各測定点での照射強度を同時に測定すること。例文帳に追加
In order to measure illuminances in a plurality of positions of the place irradiated by the light of a light source; the plurality of positions of the place are so used as respective measuring points, and illuminance sensing devices Cs0-Cs25 are so disposed previously in the respective positions as to measure irradiation intensities simultaneously at the respective measuring points. - 特許庁
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