限界検査の英語

本発明は、限界ゲージおよび検査対象物のねじ山が摩擦により損傷することを防止するねじ山検査装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a screw thread inspection device and method, for preventing an limit gauge and screw threads of an object to be inspected from being damaged by friction. - 特許庁

検査用標識の縮小サイズが同受像機の表示限界に達した以降は、サイズの縮小を止める。例文帳に追加

After the reduction size of the sign for the inspection reaches the display limit of the receiver, the reduction of the size is stopped. - 特許庁

携帯可能な簡易的な検査器でありながら、センサの使用限界を自己診断して計測結果の正当性を高めることができる呼気検査器を提供する。例文帳に追加

To provide an expiration examination device capable of enhancing the validity of a measuring result by self-diagnosing the use limit of a sensor regardless of a portable simple examination device. - 特許庁

小型軽量で取り扱い容易であり、支障物を連続的に検査し、具体的改修方法の検討をその場で行える建築限界検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a clearance limit inspection device, easy to handle because of its small size and light weight, for continuously inspecting obstacles, and studying a specific improvement method therefor on the spot. - 特許庁

検査結果は、有効数字２桁で記載する。ND となった場合には検出限界を明記し<20 Bq/kgのように記載する。例文帳に追加

The test results shall be recorded to 2 significant figures. In cases where the results are below the detection limit, record the test result with the detection limit, e.g., as <20 Bq/kg. - 厚生労働省

欠陥検査領域の明確化と遮光領域規定パターンを縮小投影露光装置の解像限界以下とする。例文帳に追加

To define the region for inspection of defects, and to make a pattern to restrict a light-shielding region smaller than the resolution limit of a reduction stepper. - 特許庁

ブラインドビアホール４が許容限界内の位置ずれをもって形成された場合（図１の（ｃ）に示した場合）には上記の導通状態は実現しないから、上記の導通状態の有無を布線検査によって検査することによって、ブラインドビアホール４の許容限界を超える位置ずれの有無を検査することができる。例文帳に追加

If the blind via hole 4 is formed within the allowable limit (shown in Fig. 1 (c)), since above conductive state is not realized, the presence of the conductive state can be checked by the wiring test to inspect the existence of the misregistration of the blind via hole 4, which exceeds the allowable limit. - 特許庁

より厳しい検査電圧及びライトリカバリ時間の下でこれらのメモリセルの検査を行って、メモリセルをさらなるストレスの下に置き、弱い、または動作限界近くで良好なメモリセルを明らかにする。例文帳に追加

Weak or satisfactory memory cells are clarified by inspecting these memory cells under a severer inspection voltage and write recovery time, and locating the memory cells under further severer stress. - 特許庁