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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 英和専門語辞典 > 集束偏向系の英語・英訳 

集束偏向系の英語

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英訳・英語 focus deflection system


クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「集束偏向系」の英訳

集束偏向系


「集束偏向系」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 6



例文

集束電極の精度を低下させたりすることなく、偏向歪み相殺用の強い四極レンズ電界を生成させる。例文帳に追加

To have a strong 4-pole lens electric field for canceling deflection distortion without deteriorating accuracy of a focusing electrode system. - 特許庁

前記シャッタシステム13は、前記集束光学の光路上かつ前記レーザ光17aの集束点A近傍へと突出可能な反射鏡14を含み、前記反射鏡14は、突出した際に前記レーザ光17aを前記集束光学および加工光学9の光軸外へと反射(偏向)させて発散させる。例文帳に追加

The shutter system 13 includes a reflection mirror 14 that can project onto the optical path of the focusing optical system and to the proximity of the focus point A of the laser beam 17a, wherein the reflection mirror 14, when projected, causes the laser beam 17a to diverge by reflecting (deflecting) it to outside the optical axis of the focusing optical system and the machining optical system 9. - 特許庁

荷電粒子線装置は、荷電粒子線を集束させて試料に照射する対物レンズを有する照射と、荷電粒子線を偏向走査する偏向走査と、荷電粒子線の照射により試料から発生する信号を検出して走査像を生成する走査像生成と、を有する。例文帳に追加

A charged particle beam device has an irradiation system, having an objective lens for focusing charged particle beams and irradiating a sample with the focused beams; a deflection scanning system for deflection-scanning the charged particle beams; and a scanning image forming system for detecting signals generated from the sample by the irradiation of the charged particle beams and then forming a scanning image. - 特許庁

本発明は、集束イオンビーム光学における絞り,チルト偏向器,ビームスキャナー、及び対物レンズを制御し、該光学の光軸に対して傾斜したイオンビームを照射することに関する。例文帳に追加

This invention relates to irradiation of ion beams inclined with respect to an optical axis of the optical system by controlling a diaphragm, tilt deflector, beam scanner, and objective lens in a focused ion beam optical system. - 特許庁

粒子光学は、ビームを集束するための対物レンズと、ビーム経路で対物レンズの上流側に配置した第1ビーム偏向器と、ビーム経路で第1ビーム偏向器と対物レンズとの間に配置した収差補正器と、ビーム経路で収差補正器の下流側に配置した第2ビーム偏向器とを備える。例文帳に追加

The particle optical system has an objective lens for focusing the beam, a first beam deflector arranged at an upstream side of the objective lens in a beam passage, an aberration corrector arranged between the first beam deflector and the objective lens in the beam passage, and a second beam deflector arranged at a downstream side of the aberration corrector in the beam passage. - 特許庁

例文

特に、振れ補正手段4は、撮像レンズ3の光軸C上に配置されて被写体からの入射光を屈折偏向する複数の偏向素子41,42,43を含み、その各偏向素子41,42,43のうち少なくとも一つが入射光を集束する非球面レンズ部44,45,46を一体として備えている。例文帳に追加

Especially, the blur correction means 4 includes a plurality of deflecting elements 41, 42 and 43, arranged on an optical axis C of the imaging lens system 3 and refracting and deflecting incident light from a subject, and at least one of the deflection elements 41, 42 and 43 is equipped with aspherical lens parts 44, 45 and 46 focusing the incident light as a unit. - 特許庁

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