電子回折データの英語

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。例文帳に追加

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential. - 特許庁

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に次の処理が行われて、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁化分布像データＭ_ｘｙが求められる。例文帳に追加

The following processes are performed on each acquired electronic diffraction pattern D_xy to obtain each one piece of magnetization distribution image data M_xy for each electronic diffraction pattern D_xy. - 特許庁

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に以下の（ａ）〜（ｃ）の処理を行って、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁区構造画像データＭ_ｘｙを求める。例文帳に追加

One magnetic domain structural image data M_xy against one electron diffraction figure D_xy is calculated by performing the following (a)-(c) processing on each obtained electron diffraction figure D_xy. - 特許庁

磁化分布像は、電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に求められた磁化分布像データＭ_ｘｙに基づいて得られる。例文帳に追加

The magnetization distribution image is determined based on the magnetization distribution image data M_xy determined for each electronic diffraction pattern D_xy. - 特許庁

そして、電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に求めた磁区構造画像データＭ_ｘｙに基づいて磁区構造画像を得る。例文帳に追加

Thus, the magnetic domain structural image is obtained on the basis of the magnetic domain structural image data M_xy calculated at each electron diffraction figure D_xy. - 特許庁

物質同定部４は、電子線回折像解析部３から送信された格子面間隔データ、ＥＤＸ分析部２から送信された元素データをもとに検索用データベースを検索して物質を同定する。例文帳に追加

The substance identification part 4 retrieves the database for the retrieval to identify the substance, based on the lattice spacing transmitted from the electron beam diffraction image analytical part 3 and an element data transmitted from the EDX analytical part 2. - 特許庁

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。例文帳に追加

An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function. - 特許庁