静電電位計の英語

静電電圧計（ＥＳＶ）は、静電位を表す高電圧信号を受け取る高電圧入力部を有する。例文帳に追加

This electrostatic voltmeter(ESV) has a high-voltage input part for receiving a high-voltage signal for expressing an electrostatic potential. - 特許庁

感光体の長さに沿って高速走査方向に移動可能に取り付けられた静電電圧計、又は、感光体の長さに沿って間隔を置いた位置に配置された複数の静電電圧計を含む。例文帳に追加

It includes an electrostatic voltmeter movably mounted along the length of the photoreceptor in a fast scanning direction or includes a plurality of electrostatic voltmeters disposed at spaced apart locations along the length of the photoreceptor. - 特許庁

合紙１８が吸着されたウェブ１２の表面電位を静電センサ４４及び表面電位計４６で計測し、この計測結果に基づきウェブ１２へ帯電させる帯電電極４０の帯電電圧を制御する。例文帳に追加

Surface electric potential of the web 12, to which a laminated paper 18 is attracted, is measured by a static electricity sensor 44 and a surface electric potential meter 46, and the charging voltage of a charging electrode 40 for charging the web 12 is controlled on the basis of a result of this measurement. - 特許庁

この帯電電圧計測装置１２は、基板保持台４上に配置されていて基板６との間に静電容量Ｃ_ｓ を形成する計測用電極１４と、それと接地電位部との間に接続された静電容量Ｃ_ｍ の計測用コンデンサ１８と、その両端の計測電圧Ｖ_ｍ を計測する電圧計２０と、演算器２２とを備えている。例文帳に追加

The charged voltage measuring device 12 is arranged on a substrate holding table 4, and is provided with a electrode 14 for measurement for forming capacitance C_s with the substrate 6, a capacitor 18 for measurement of capacitance C_m connected between the electrode 14 and a ground potential part, a voltmeter 20 for measuring a measured voltage V_m on both ends, and a computing unit 22. - 特許庁

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。例文帳に追加

In order to achieve the object, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes. - 特許庁

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。例文帳に追加

In order to solve the above problem, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes. - 特許庁

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。例文帳に追加

In order to achieve the objective, this invention provides a method of measuring a potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes. - 特許庁