高速評価法の英語

正確かつ高速なパターンの形状評価を実現できるパターン形状評価方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pattern shape evaluation method and apparatus which can realize accurate and rapid pattern shape evaluation. - 特許庁

再構成型超解像処理において、評価関数と評価関数の高解像度画像に対する微分の計算を高速化することによって超解像処理の高速化を実現した超解像処理の高速化方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for quickening super-resolution processing for realizing the quickening of super-resolution processing by quickening the calculation of evaluation functions and the differentials for the high resolution image of the evaluation functions in reconfiguration type super-resolution processing. - 特許庁

半導体装置の信頼性評価を高速に多数個同時に行うことが可能な半導体評価装置及び半導体装置の評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor valuation apparatus and a method for valuing a semiconductor device, which are capable of carrying out the reliability valuation for a large number of semiconductor devices at high speed simultaneously. - 特許庁

低コスト及び短納期で、高精度な評価が可能な高速光通信モジュール用評価基板及びそれを用いた評価方法、回路基板を実現する。例文帳に追加

To provide an evaluation substrate for evaluating a high speed optical communication module and to provide an evaluation method using the same capable of highly precise evaluation, and a circuit substrate at a low cost with a short delivery time. - 特許庁

高速延性破壊で重要な、せん断き裂伝播抵抗の材料評価に適した試験片を用いた特性評価をすることにより、高速延性破壊による大事故を防止するための、鋼管の高速延性破壊の伝播停止特性判定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for determining propagation stop characteristic of high-speed ductile fracture of a steel pipe, for preventing a large-scale accident by high-speed ductile fracture by performing a characteristic evaluation by the use of a test piece suitable to material evaluation of shearing crack propagation resistance which is important in high-speed ductile fracture. - 特許庁

高速カメラや高度な撮影タイミング制御などを要することなく、表示装置の動画質を定量的に評価することが可能な表示装置の評価手法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for evaluating the dynamic image quality of a display quantitatively without requiring a high speed camera, advanced photography timing control, and the like. - 特許庁

異方性薄膜の規則度および配向方位を高速に測定することができると共に、異方性薄膜の構造を正確に評価することができる異方性薄膜評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide an evaluation method of anisotropic thin film which can quickly measure the regulation degree and orientation of anisotropic thin film and can exactly evaluate the structure of anisotropic thin film. - 特許庁

クロスポイント型のメモリセルアレイを有する不揮発性半導体記憶装置において、機能評価用のデータパターンの書き込みを高速化して評価時間の短縮化を可能とするデータ書き込み方法を提供する。例文帳に追加

To provide a data writing method that enables the write of the data pattern for function evaluation at high speed and shorten the evaluation time in a non-volatile semiconductor memory device having a cross point memory cell array. - 特許庁