1回号試の英語

中継器１に、火災感知器４の火災発報信号又は外部試験器からの試験発報信号Ｅ２を受信して火災信号Ｅ３を出力する受信回路１７と、火災信号Ｅ２の出力時間を判別して異なる移報先に移報信号を出力する移報出力回路とを備える。例文帳に追加

The repeater 1 is provided with a receiving circuit 17 for receiving a fire alarm-issue signal from the fire sensor 4 or the test alarm-issue signal E2 from external tester and a alarm-transfer output circuit for discriminating the output time of the fire signal E2 and outputting a alarm-transfer signal to a alarm-transfer destination. - 特許庁

制御回路１で、折り返し試験の際に当該装置に呼接続されている無線端末の呼接続数に応じた試験信号の送信電力を求め、その送信電力ＴＳＴＰを、折り返し試験信号の送信に用いているチャネル回路へ出力する。例文帳に追加

Test signal transmitting power in accordance with the call connection number for radio terminals which are connected to a radio base station unit upon the loop back test is obtained at a control circuit 1, and the transmitting power TSTP is output to channel circuits used for the transmission of the loop back test signal. - 特許庁

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。例文帳に追加

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3. - 特許庁

ＡＤＣ疑似信号発生器内蔵ＩＣ１の内部回路の動作は、テストモード信号発生回路１３から試験モードを表す信号を発生させて、読出回路５を能動化させて行う。例文帳に追加

The operation of internal circuit with an ADC false signal generator built-in IC 1 makes the test mode signal generator 13 generate a signal representing a test mode and activate the read out circuit 5. - 特許庁

ＶＬＡＮサイト１００の相互間で回線を介して送受信される試験用データを判断する信号判断手段１と、この試験用データの応答としての試験用データ又は回線を介して送信する要求としての試験用データを生成する試験信号生成手段２と、このデータのスイッチング送信を制御するスイッチ制御手段３とを備える。例文帳に追加

The network switching apparatus includes a signal determining device 1 for determining a testing data transmitted and received via lines among VLAN sites 100, a testing signal generating device 2 for generating testing data as a response of the testing data or testing data for requesting transmission via the lines, and a switching control device 3 for controlling switching transmission of this testing data. - 特許庁

ウェーハ１は、外部から無線により送信される電力および試験開始信号を受信する無線受信回路チップ２と、自己診断試験回路を搭載する不揮発性メモリチップ３と、を混載する。例文帳に追加

A wireless receiving circuit chip 2 for receiving electric power transmitting by wireless from the outside and a test start signal, and a non-volatile memory chip 3 loading a self-diagnosis test circuit are mix-loaded in a wafer 1. - 特許庁

信号処理回路（２０）において、試料表面からの反射光を受光する1次元イメージセンサからの輝度信号及び間隔測定手段（１２）からの位置情報を用いて試料の2次元画像情報及び試料表面の高さ情報を出力する。例文帳に追加

A signal processing circuit (20), using a brightness signal from a one-dimensional image sensor receiving reflected light from the surface of the sample and the position information from the spacing measuring means (12), outputs the two-dimensional image information of the sample and the height information of the surface of the sample. - 特許庁

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する１ｍｓ経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。例文帳に追加

Thus, since a start of the next variable display is informed to the testing machine after passing 1 ms corresponding to deciding time of an input signal of the testing machine, an error caused in the last time variable display is not erroneously recognized by the testing machine as an error of the next time variable display. - 特許庁